題目 : Comparative Analysis of Defects in Mg-Implanted and Mg-Doped GaN Layers on Freestanding GaN Substrates
著者 : A. Kumar, K. Mitsuishi , T. Hara, K. Kimoto, Y. Irokawa, T. Nabatame, S. Takashima, K. Ueno, M. Edo, Y. Koide
雑誌 : Nanoscale Research Letters
掲載日時 : 2018年11月11日発行号 (Vol. 13)
DOI :
10.1186/s11671-018-2804-y