長年にわたり産業界のニーズが高い材料/デバイスのナノ表面化学分析法に関する ISO 並びにVAMAS(新材料及び標準に関するベルサイユプロジェクト)における国際標準化活動を主導。SPM(走査型プローブ顕微鏡)ナノ表面分析に関する標準化実績としては、プロジェクトリーダーとして発行した ISO 規格(IS)1 件、進行中(FDIS)1 件、国内規格としては JIS 規格 2 件である。ISO/TC201(表面化学分析)日本代表として表面化学分析の国際標準化全般を主導しつつ、VAMAS 日本代表として新材料のプレ標準化国際共同研究スキームの運営に貢献。表面ナノ分析技術の社会への普及を促進し、半導体やエネルギー産業等の研究開発力の向上に貢献。