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第147回先端計測オープンセミナー

走査型プローブ顕微鏡データにおける微小信号のEFAによる可視化

開催日: 2019.11.19 終了


日時

2019年11月19日 (火) 16:00-17:00

会場

国立研究開発法人 物質・材料研究機構
千現地区 研究本館8階 中セミナー室
交通案内 → こちら

参加方法及びお問合わせ

事前登録は必要ありません。
当日会場で受付いたします。
お問い合わせは、右記事務局までご連絡ください。

講演者

山西絢介、分子科学研究所、特任研究員

表題

走査型プローブ顕微鏡データにおける微小信号のEFAによる可視化

講演要旨

走査型プローブ顕微鏡は、探針を試料上で走査しスペクトロスコピーを行うことで、試料の表面特性を可視化する技術の総称である[1]。その空間分解能は原子分解能に達するものもあり、試料を構成する単原子レベルでの特性を観測できる。一方、EFA(explolatory factor analysis)は統計解析の一手法であり、得られたデータを共通成分と独自成分の二種類に分ける統計モデルを持つ[2]。ここでは、測定で得られるスペクトルに含まれる信号とノイズが、共通因子と独自因子に分類できることに注目し、EFAを用いた微小信号の可視化を行った。これによって、スペクトルデータ内の微小信号を可視化することが出来たことを、様々な種類の走査型プローブ顕微鏡のデータを用いて発表する。


[1] Wiesendanger, R., & Roland, W. (1994). Scanning probe microscopy and spectroscopy: methods and applications. Cambridge university press.
[2] Reyment, R. A., & Jvreskog, K. G. (1996). Applied factor analysis in the natural sciences. Cambridge University Press.


イベント・セミナーデータ

イベント・セミナー名
第147回先端計測オープンセミナー
走査型プローブ顕微鏡データにおける微小信号のEFAによる可視化
会場
国立研究開発法人 物質・材料研究機構
千現地区 研究本館8階中セミナー室
開催日: 時間
2019.11.19
16:00-17:00
参加料
無料

お問合わせ

国立研究開発法人 物質・材料研究機構 先端材料解析研究拠点運営室
Tel:029-859-2839
Fax:029-859-2801
E-Mail: amc=ml.nims.go.jp([ = ] を [ @ ] にしてください)
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