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NIMS先端計測シンポジウム2020

データ科学と融合したオペランド・先端計測

開催日: 2020.03.06 NEW


最先端計測基盤技術の開発と応用展開により先進材料イノベーションを加速することを目的として、NIMS「先進材料イノベーションを加速する最先端計測基盤技術の開発」プロジェクトならびに先端材料解析研究拠点は、「NIMS先端計測シンポジウム 2020」を開催します。

2020年のNIMS先端計測シンポジウムは「データ科学と融合したオペランド・先端計測」をメインテーマとしました。近年、IoT社会の急速な進展と指数関数的なビッグデータ化に伴い、人工知能 (AI) や機械学習 (ML) などのデータ科学やインフォマティクスの手法がインダストリー、ビジネス、アカデミアの分野で実用化されています。一方、先端計測分野では、材料やデバイスが実際に動作する環境場での計測、すなわちオペランド ・先端計測における多次元的な分光イメージング計測のニーズが高まっており、その結果としてテラバイト級のビッグデータが単一の計測からが発生されつつあります。私たちはオペランド・先端計測とデータ科学を融合させることにより、ハードウエアの測定限界を超越し、ビッグデータに埋もれた情報を全て抽出可能とする「先端計測インフォマティクス」の開発を推進しています。今回は先端材料計測分野を切り拓く第一線の研究者による招待講演を交えつつ、オペランド・先端計測とデータ科学に携わる研究者と技術者の交流の場として、新たな連携と協働の関係を構築する機会を提供します。

最先端材料計測技術を先駆けるNIMS先端計測シンポジウム2020に是非ご参加いただきますようご案内申し上げます。


開催日時

2020年3月6日 (金)
10時00分~17時05分
17時20分~意見交換会

参加費

無料 (但し 意見交換会 2000円)

プログラム

10:00-10:05 開会挨拶 藤田大介 研究
拠点長
セッション1 : 計測インフォマティクス・先端電子顕微鏡
10:05-10:40 S1 特別講演
TBA
溝口照康 東京大学
10:40-11:00 O1
最新モノクロメータと分光・検出系による電子顕微鏡計測 Electron microscopy measurements using new monochromator and spectroscopy-detection system
吉川純 NIMS
11:00-11:20 O2
ピクセル型STEM検出器による電子線位相検出 Electron phase measurement using STEM pixelated detector
三石和貴  NIMS
11:20-12:50 ポスターセッションⅠ
セッション2 : オペランド・先端計測
12:50‐13:25 S2 特別講演
TBA
陣内浩司 東北大学
13:25‐13:45 O3
TBA
板倉明子 NIMS
13:45‐14:05 O4
TBA
石田暢之 NIMS
14:05‐14:25 O5
TBA
倉橋光紀 NIMS
14:25‐15:10 ポスターセッションⅡ
セッション3 : 先端量子ビーム
15:10‐15:45 S3 特別講演
TBA
矢橋牧名 理化学研究所
15:45‐16:20 S4 特別講演
TBA
横尾哲也 KEK・物質構造科学研究所
16:20‐16:40 O6
TBA
寺田典樹 NIMS
16:40‐17:00 O7
TBA
桜井健次 NIMS
17:00‐17:05 閉会挨拶 木本浩司 プロジェクトリーダー
17:20‐19:00 意見交換会 ポスター賞授賞式

ポスタープログラム

P1 量子ビーム計測応用技術の開発による先進材料イノベーションの加速 武田良彦 NIMS
P2 強磁場固体NMRおよび強磁場光物性計測に関する技術開発と応用 清水禎 NIMS
P3 高感度高精度電子顕微鏡法の開発とナノ領域その場物性計測 木本浩司 NIMS
P4 表層化学状態計測における情報分離技術の開発 増田卓也 NIMS
P5 表面敏感オペランドナノ計測法の開発と先進材料応用 倉橋光紀 NIMS
P6 MeV C60クラスターイオン照射による埋め込まれたナノ粒子の楕円変形 雨倉宏 NIMS
P7 ヨーグルト中の乳酸菌が産生する細胞外多糖の直接可視化 中尾秀信 NIMS
P8 Broadband Plasmon Resonance Enhanced Third-Order Optical Nonlinearity in Refractory TiN Nanostructures Rodrigo SATO NIMS
P9 Functionalize third-order nonlinearity in near-IR region Boyi ZHNAG NIMS
P10 Quality factor of Chiral waveguides in topological asymmetric photonic crystal slabs Afshan Begum NIMS
P11 The Nonlinear Response of Mulitipole Resonances from Ag Nanoplate Jalu Setiya PRADANA NIMS
P12 ヘキサマーをベースにしたホールディン物質K2Cu3O(SO4)3の磁気構造 長谷正司 NIMS
P13 ネオジム磁石のスピンダイナミクス 西野正理 NIMS
P14 Advanced investigation of surface and interface properties by using hard X-ray photoemission spectroscopy Ibrahima GUEYE NIMS
P15 In-situ XAFS study of the three-way catalytic reaction of CZ supported PdRu solid-solution nanoparticles Okkyune SEO NIMS
P16 X線全散乱を用いた結晶性材料の構造解析方法 廣井 慧 NIMS
P17 Understanding of anisotropic mosaicity and lattice-plane twisting of an m-plane GaN homoepitaxial layer Jaemyung KIM NIMS
P18 InGaAsラシュバ二次元電子系のサイクロトロン共鳴 今中康貴 NIMS
P19 Terahertz cyclotron resonance in AlGaN/InGaN heterostructures Dickson Zakaria Kindole NIMS
P20 イオンゲルゲートを用いフェルミ準位制御された二層グラフェンのサイクロトロン共鳴 竹端寛治 NIMS
P21 小型800-MHz LTS/HTS NMRマグネット 松本真治 NIMS
P22 四極子核のNMRスペクトルのパルスシーケンス依存性 端健二郎 NIMS
P23 窒化ガリウム微結晶の71Ga NMRシフト分布の解析 丹所正孝、末廣隆之、清水禎 NIMS
P24 光照射NMR分光法の開発 後藤 敦 NIMS
P25 リチウムイオン電池材料のナノ力学特性マッピング 増田卓也 NIMS
P26 機械学習による光電子スペクトルのハイスループットピークシフト検出 永村直佳 NIMS
P27 埋もれた界面物性評価のための超高速分光技術3 石岡邦江 NIMS
P28 電子ビームベースの技術におけるデータ駆動型スペクトル分析法 B. Da, J.W. Liu, H. Yoshikawa, S. Tanuma NIMS
P29 与えられた実験データの材料パラメータ依存の実験式を決定する普遍的な方法 X. Liu, K. Nagata, H. Yoshikawa, S. Tanuma, B. Da NIMS
P30 オージェ電子スペクトルの背景領域から電子非弾性平均自由行程を抽出する L. H. Yang, H. Yoshikawa, S. Tanuma, B. Da, NIMS
P31 共鳴X線散乱によるトポロジカル磁気構造の観測 山﨑裕一 NIMS
P32 X線光電子分光におけるスパースモデリングの自動化と化学分析への応用 吉川英樹 NIMS
P33 応力印加SPMの開発(III) 鷺坂恵介、Oscar Custance、藤田大介 NIMS
P34 極低温走査トンネル分光データの多変量解析の試み 吉澤俊介 NIMS
P35 ラシュバ型原子層超伝導体における動的スピン軌道運動量ロッキング効果の解明 内橋 隆、吉澤 俊介 NIMS
P36 走査SQUID顕微鏡を利用した材料開発と物性 有沢俊一1、田中康資2、山森弘毅2、柳澤孝2、西尾太一郎3、立木実1、大井修一1、小森和範1、林忠之4、遠藤和弘5、Petre Badica6 1)NIMS、2)AIST、3)東京理科大、4)仙台高専、5)金沢工大、
6)NIMP, Romania
P37 人工知能を使った材料Finger Printの作成 石井真史 NIMS
P38 PdCuSi/膜型応力センサを用いた水素検出 矢ヶ部太郎、今村岳、吉川元起、北島正弘、板倉明子 NIMS
P39 細胞表面の特性制御と反応計測 貝塚 芳久 NIMS
P40 Characterize mechanics of tensegrity material: life-making and?life-saving Han Zhang, Hongxin Wang, Ryo Tamura, Bo Da, Nobukata Hanagata, Daisuke Fujita NIMS
P41 Synthesis of organic gel for constructing an artificial cortical column. Pathik Sahoo, Pushpendra Singh, Dhayalini B and Anirban Bandyopadhyay NIMS
P42 ヘリウムイオン顕微鏡像の走査電子顕微鏡像との比較 大西桂子 NIMS
P43 表面偏析法によって成長したNi(110)上のグラフェンのスピン偏極低エネルギー電子顕微鏡による観察 鈴木 雅彦 NIMS
P44 ローレンツ電顕法によるFeGeにおける準安定スキルミオンの観察  長井拓郎、于秀珍、金澤直也、十倉好紀 NIMS
P45 月面製鉄 - 月鉱物資源の利用を目的とした電子線励起アシスト製鉄技術の開発 三井正、石川信博、竹口雅樹 NIMS
P46 低濃度グリセロール水溶液ガラスの結晶化と偏析過程 鈴木芳治 NIMS
P47 磁気冷凍材料金属微粒子の断面観察 田中美代子 NIMS
P48 水溶液ガラスの高圧力下誘電測定とそのプローブ開発 佐々木海渡、鈴木芳治 NIMS
P49 Nanophase-separated structure of metal/oxide material characterized by TEM and persistent homology Yu Wen, Ayako Hashimoto, Abdillah Sani BinMohd Najib, Hideki Abe NIMS
P50 メタン転換触媒のその場TEM観察 橋本綾子、Xiaobo Peng、阿部英樹  NIMS
P51 In-situ TEM study of Ni-based catalyst for methane conversion Yutian Han、Ayako Hashimoto NIMS
P52 主な製鉄原料からコークスを除いた成分の相互作用のその場観察 石川信博 NIMS
P53 Atomic-scale electric field and charge mapping by electron microscopy CRETU Ovidiu NIMS


イベント・セミナーデータ

イベント・セミナー名
NIMS先端計測シンポジウム2020
データ科学と融合したオペランド・先端計測
会場
国立研究開発法人 物質・材料研究機構 千現地区(別ウィンドウで開きます)
研究本館管理棟1階 第一会議室、講堂
開催日: 時間
2020.03.06
10:00~17:05
参加料
無料  (但し、意見交換会2000円)
主催
国立研究開発法人 物質・材料研究機構
先端材料解析研究拠点
先進材料イノベーションを加速する最先端計測基盤技術の開発プロジェクト

お問合わせ

先端材料解析研究拠点運営室
TEL:029-851-3354(ext.3861)
FAX:029-859-2801
E-Mail: amc=nims.go.jp([ = ] を [ @ ] にしてください)
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