NIMS先端計測シンポジウム2022

マテリアル革新力強化を支えるマルチスケール先端計測

開催日: 2022.03.11 終了


最先端計測基盤技術の開発と応用展開により“先進材料イノベーション”を加速することを目的として、NIMS中長期計画プロジェクト「先進材料イノベーションを加速する最先端計測基盤技術の開発[1]」ならびに先端材料解析研究拠点[2]は、「NIMS先端計測シンポジウム 2022」を開催いたします。

2022年のNIMS先端計測シンポジウムは「マテリアル革新力強化を支えるマルチスケール先端計測」をテーマとしました。最近の研究動向として、物質材料研究における革新力強化が求められています[3,4]。新奇な物性や優れた材料特性を発現するメカニズムを解明しイノベーションへとつなげるためには、まず物質材料の最表面・表層・界面・微細構造・局所構造・スピン磁気構造・バンド構造などをマルチスケールで評価する必要があります。NIMSでは上記プロジェクトおよび先端材料研究拠点が中心となって、走査プローブ顕微鏡・光電子分光法・透過電子顕微鏡・固体NMR・中性子散乱・強磁場物性計測・放射光計測など様々な計測手法に取り組んでいます。開発した先端計測技術は、材料研究開発の国家プロジェクトをはじめ、他研究機関や企業との共同研究などに展開しています。

本シンポジウムでは、先端材料計測分野の3名の著名な先生方に招待講演をお願いしました。それぞれ、X線を用いた高度構造解析技術、プローブ顕微鏡を用いた表面構造解析や原子操作、および電子顕微鏡や回折結晶学などを駆使した構造解析など、物質材料科学の第一線で活躍されている先生方です。加えてNIMSで行っている上記プロジェクトの最新の研究成果について、口頭発表やポスター発表を行います。先端材料計測分野の研究成果を皆様に提示し、新たな連携と協働の関係を構築する機会とさせていただきたいと存じます。

昨年に引き続き、本シンポジウムは全面的なオンライン形式でのシンポジウムといたします。ポスター発表者とオンライン上で個別に討論できる機会を設けるなど、対面開催と同等の意義あるオンラインシンポジウムとなるようにする所存です。最先端の材料計測解析技術の研究開発の先駆けの場としてのNIMS先端計測シンポジウム 2022に是非ご参加いただき、活発なディスカッションと意見交換、さらに産学官の連携の場となることを期待します。皆様方、多数ご参加下さいますようご案内申し上げます。

[1]https://www.nims.go.jp/project/amcp/index.html
[2]https://www.nims.go.jp/research/materials-analysis/
[3]https://www8.cao.go.jp/cstp/kihonkeikaku/index6.html
[4]https://www8.cao.go.jp/cstp/material/material.html

開催日時

2022年3月11日 (金)
10時00分~17時00分 予定

開催場所

オンライン

参加申し込み

参加登録は、下記の登録フォームからお申し込みください。
登録フォーム

【締切日時】
参加登録 : 2022年3月10日 (木) 12:00
ポスター申し込み : 2021年12月24日 (金)  ポスター申し込みは終了いたしました。
※なお、すでにメールでお申込みいただいた方は、改めて登録する必要はございません。
 後日、オンライン接続情報をお知らせします。

参加費

無料

予稿

予稿集はこちらから閲覧・ダウンロードできます(13MB)。
予稿集


プログラム

Opening
10:00-10:05 開会挨拶 木本浩司 拠点長
プロジェクトリーダー
Session 1 : 先端バルク材料解析
10:05-10:40 S1 特別講演
原子分解能ホログラフィーによる「超秩序構造」観測
Observation of hyper-ordered structures by atomic resolution holography
林好一 名古屋工業大学
10:40-11:00 O1 招待講演
高温NMRの無機材料への応用
Application of High-Temperature NMR
端健二郎 NIMS
11:00-11:20 O2 招待講演
中性子回折を利用した材料の非破壊検査
Non-destructive materials testing by neutron powder diffraction
茂筑高士 NIMS
Poster Session 1
11:20-11:50 ポスター1分講演/Poster short presentation(P1-6~P1-22)
11:50-12:35 P1-1~P1-22
Session 2 : 表面敏感計測
13:00-13:35 S2 特別講演
ケルビンプローブ力顕微鏡と光誘起力顕微鏡の最近の展開
Recent Development of Kelvin Probe Force Microscopy and Photoinduced Force Microscopy
菅原康弘 大阪大学
13:35-13:55 O3 招待講演
プローブ顕微鏡を用いた表面反応開発と炭素ナノ構造体の合成
Development of on-surface reactions and syntheses of nanocarbon materials studied with high-resolution scanning probe microscopy
川井茂樹 NIMS
13:55-14:15 O4 招待講演
極低温走査型トンネル顕微鏡を用いた超伝導体観察
Observation of superconductors using a low-temperature scanning tunneling microscope
吉澤俊介 NIMS
Poster Session 2
14:15-14:45 ポスター1分講演/Poster short presentation(P2-1~P2-22)
14:45-15:30 P2-1~P2-22
Session 3 : 界面微細構造計測
15:40‐16:15 S3 特別講演
オングストロームビーム電子回折による非晶質材料の局所構造解析
Local structure analysis of amorphous materials using angstrom-beam electron diffraction
平田秋彦 早稲田大学
16:15‐16:35 O5 招待講演
ガス雰囲気加熱試料ホルダーの開発と触媒のその場TEM観察
Development of s Gas Environmental Heating specimen holder system and in-situ observation of catalytic materials
橋本綾子 NIMS
16:35‐16:55 O6 招待講演
LaB6 Nanowire Electron Microscopes: From Aberration-corrected TEM to Low-cost Tabletop SEM
Zhang Han NIMS
16:55‐17:00 閉会挨拶 木本浩司 拠点長
プロジェクトリーダー

ポスタープログラム

※ポスターの閲覧は番号をクリックしてください。
Poster session 1  
P1-1
表面敏感オペランドナノ計測法の開発と先進材料応用
Development of operando surface nano-characterization techniques for their application to the study of advanced materials
倉橋光紀 NIMS
P1-2 表層化学状態計測における情報分離技術の開発
Development of Computer-aided Depth-resolved Surface Chemical Analysis Techniques
増田卓也 NIMS
P1-3 高感度高精度電子顕微鏡法の開発とナノ領域その場物性計測
Advanced Electron Microscopy for High-Sensitivity/Precision and In-Situ Material Characterization
三石和貴 NIMS
P1-4 強磁場固体NMRおよび強磁場光物性計測に関する技術開発と応用
Development and applications of solid-state NMR and optical properties characterization at high magnetic fields
後藤 敦 NIMS
P1-5 量子ビーム計測応用技術の開発による先進材料イノベーションの加速
Light/Quantum beam technology for dramatic progress of R & D in advanced materials
武田良彦 NIMS
P1-6 細胞膜表面分子物性とウイルス感染
Material properties of cell membrane molecules and virus infection
貝塚芳久、町田梨香 NIMS
P1-7 走査SQUID顕微鏡を利用した物性評価と材料開発
Materials Development and Physical Property Study using Scanning SQUID Microscopy
有沢俊一1、田中康資2
山森弘毅2、柳澤孝2
常盤和靖3、石津寛2,3
西尾太一郎3、立木実1
大井修一1、菊池章弘1
許斐太郎4、久保毅幸4
井藤隼人4、加古永治4
阪井寛志4、 梅森健成4
林忠之5、遠藤和弘6
Petre Badica7
1.NIMS
2.AIST
3.東京理科大学
4.KEK
5.仙台高専
6.金沢工大学
7.Nat. Inst. for Materials Physics
P1-8 Invariant Gel Computing for Intractable Problems Pathik Sahoo1, Pushpendra Singh1, Komal Saxena1,
Subrata Ghosh2, Anirban 
Bandyopadhyay1
1.NIMS
2.NEIST
P1-9 有機分子蒸着によるSi(111)-(√7×√3)-In超伝導転移温度の変化
Tuning the transition temperature of atomic-layer superconductor
横田健太1,2、小林宇宏3、Wenxuan Qian2
稲垣俊輔3、坂本一之3
内橋隆1,2
1.NIMS
2.北海道大学
3.大阪大学
P1-10 機械学習を用いたSi表面超構造変化におけるRHEEDパターン解析
Machine learning analysis for RHEED pattern of Si surface superstructural transition
吉成朝子1,2
岩崎悠真2,3,4、小嗣真人1
永村直佳1,2,3
1.東京理科大学
2.NIMS
3.JST-さきがけ
4.東京大学
P1-11 放射光軟 X線顕微光電子分光法による AlxGa1-xN系薄膜の 非破壊電子状態分析
Non-destructive spectral analysis of AlxGa1-xN films by synchrotron soft X-ray photoelectron spectromicroscopy
竹澤伸吾1、小濱路生2
張文雄3、吹留博一2
渡邊一世4 、井村将隆5
津田俊輔5 小嗣真人1 、
永村直佳1,5,6
1.東京理科大学 
2.東北大学 
3.東京大学 
4.情通機構 
5.NIMS
6.JSTさきがけ 
P1-12 顕微分光データ解析へのインフォマティクス活用
Measurement informatics approach for data analysis in spectromicroscopy
永村直佳 NIMS
P1-13 STEM–EELSによるフォノン励起のナノメートル分解能イメージング
Nanometer resolution imaging of phonon excitation by STEM–EELS
吉川 純1,2、谷口 尚1
木本浩司1
1.NIMS
2.JSTさきがけ
P1-14 低濃度トレハロース水溶液の可逆な液液転移
Reversible liquid-liquid transition in a dilute trehalose aqueous solution
鈴木芳治 NIMS
P1-15 浮遊カーボンナノチューブのナノメートルスケールの温度測定
Nanometer-scale temperature measurements in suspended carbon nanotubes
CRETU Ovidiu1,
TANG Dai-Ming2, KAWAMOTO Naoyuki1, KURASHIMA Keiji3, MITOME Masanori3, KIMOTO Koji1
1.RCAMC
2.MANA
3.RNFS
P1-16 高温拡散NMRプローブの開発と応用
Development and application of High-temperature Pulsed-field-gradient NMR probe
端 健二郎、大木 忍、
最上 祐貴、後藤 敦、
清水 禎
NIMS
P1-17 半導体、半金属における超強磁場サイクロトロン共鳴
Ultra-high field Cyclotron Resonance in Semiconductors and Semimetal
今中 康貴 NIMS
P1-18 C60イオン照射したSi での閾値以下でのイオントラック形成
Ion Track Formation in Silicon by C60 Ion Irradiation with Subthreshold Energy Deposition
雨倉 宏 NIMS
P1-19 簡単・迅速なヨーグルト中の乳酸桿菌と球菌の選択的菌数計測
Simple and Rapid Method for Selective Enumeration of Lactic Acid Bacteria in Yogurt
中尾 秀信 NIMS
P1-20 高空間分解能スピン角度分解光電子分光装置の開発
Development of spin- and angle-resolved photoemission spectroscopy apparatus with high-spatial-resolution
矢治 光一郎、津田 俊輔 NIMS
P1-21 Observation of photonic band dispersion with high angle-resolution reflection measurements Afshan Begum1,2, Yuanzhao Yao1,
Takashi Kuroda1,
Eiichiro Watanabe1, Yoshimasa Sugimoto1,
Yoshihiko Takeda1,2,
Kazuaki Sakoda1
1.NIMS
2.University of Tsukuba
P1-22 非晶質物質の無秩序に潜む秩序の抽出
Probing order within disorder in disordered materials
小原真司 NIMS
Poster session 2  
P2-1 水素センシングと水素吸着・吸蔵の理論モデル
Hydrogen sensing and theoretical model for hydrogen absorption via adsorption
矢ヶ部太郎、今村岳、
吉川元起、宮内直弥、
北島正弘、板倉明子
NIMS
P2-2 パーシステントホモロジーによる短距離構造秩序の特徴量抽出 : 非結晶状態の体系化の試み
Feature Extraction of Short-Range Order by Persistent Homology: A Trial to Systematize the Amorphous States
上杉文彦、石井真史 NIMS
P2-3 KPFMによる定量電位ナノ計測手法に関する国際共同研究
International collaborative research for nanoscale quantitative measurement of contact potential difference by KPFM
大西桂子、北原昌代、
藤田大介
NIMS 
P2-4 量子状態選別原子・分子ビームによる表面反応・吸着分子スピン計測
Surface reaction and spin polarization analysis by quantum state selected atomic/molecular beams
倉橋光紀 NIMS
P2-5 オペランド水素顕微鏡の画像解析による水素拡散挙動の研究
Hydrogen diffusion behavior by image analysis of time depending operando hydrogen microscope
板倉明子1、宮内直弥1
矢ヶ部太郎1、村瀬義治1
青柳里香2
1.NIMS
2.成蹊大学
P2-6 STMによる高濃度SiドープGaAsの原子スケール解析
Atomic-scale characterization of highly doped Si impurities in GaAs using scanning tunneling microscopy
Nobuyuki Ishida,
Takaaki Mano,
Takeshi Noda
NIMS
P2-7 ハイブリッド鉛ハライドペロブスカイトの超高速振動ダイナミクス
Ultrafast Vibrational Dynamics of Hybrid Lead Halide Perovskite
石岡邦江 NIMS
P2-8 3D nano-ESCA による光触媒微粒子の電子状態解析
Electronic st ate analysis of photocatalytic micro particles using scanning photoelectron microscopy
大石健太1 、張文雄2 、
久富隆史3,4、堂免一成2,3 、
小嗣真人1 、永村直佳1,4,5
1.東京理科大学
2.東京大学
3.信州大学
4.JSTさきがけ
5.NIMS
P2-9 2000本のXPSスペクトル群を使った自動ピーク分離法の比較検討
A Comparative Study of Automatic Peak Separation Methods Using a Group of 2000 XPS Spectra
原田善之、篠塚寛志、
登坂弘明、吉川英樹、
田沼繁夫
NIMS
P2-10 白金単結晶電極表面における硫黄種の酸化脱離挙動
Oxidative desorption behavior of sulfur on Pt single crystal electrodes
諸岡 哲朗1
Ruttala
Devivaraprasad1、Elumalai Ganesan1
近藤 敏啓2、増田 卓也1
1.NIMS
2.お茶の水女子大学
P2-11  XPSシミュレータを包含したベイズ推定による試料構造探索
Sample Structure Determination by Bayesian Estimation with XPS Simulator
 
篠塚寛志1
Malinda Siriwardana1
永田賢二1、吉川 英樹1
庄野逸2
1.NIMS
2.電気通信大学
P2-12 アモルファスSi太陽電池断面の弱励起条件における光起電力分布の光照射電気伝導プローブAFMを用いた観察
Photovoltaic distribution on an amorphous silicon solar cell in weak excitation condition observed by conductive-probe atomic force microscopy
 
三井 正、石川信博、
竹口雅樹
NIMS
P2-13 CO2低排出製鉄を目指した窒化物の利用可能性の検討
”The study of nitride-application for low CO2 emission iron-making”
石川信博 NIMS
P2-14 Pt/CeO2複合体の構造評価のためのホモロジーによるTEM画像解析
omology analysis of TEM images for structural classification of Pt/CeO2 nanocomposites
Yu Wen1,2 ,
Hideki Abe1,3,4
Akihiko Hirata5 ,
Ayako Hashimoto1,2,4
1.NIMS
2.University of Tsukuba
3.Saitama University
4.Japan Science and Technology Agency
5.Waseda University
P2-15 不均一系4成分ウルツァイト構造窒化物 : ZnGeN2-GaNのNMR構造解析
NMR Characterization of Disorderd Quaternary Wurtzitic Nitrides in the System ZnGeN2-GaN
丹所正孝、末廣隆之、
清水禎
NIMS
P2-16 強磁場発生技術の開発と計測応用
High magnetic fields: Generation and Measurement
松本真治、今中康貴、
竹端寛治、高澤健
NIMS
P2-17 Biのサイクロトロン共鳴
Cyclotron resonance on bismuth
竹端寛治1、今中康貴1
山田暉馨2、伏屋雄紀2
木下雄斗3、徳永将史3
1.NIMS
2.電気通信大学
3.東京大学
P2-18 Laser-induced effects in lasing emissions Rui SONG1, Rodrigo SATO1,2, Yoshihiko TAKEDA2 31.University of Tsukuba
2.NIMS
P2-19 結晶構造が似たTb3RuO7とNd3RuO7の磁気構造
Magnetic structures of nearly isostructural Tb3RuO7 and Nd3RuO7
長谷正司1
Andreas Dönni 1、Vladimir Yu. Pomjakushin2
1.NIMS
2.Paul Sherrer Insitut (PSI)
P2-20 ネオジム磁石のジスプロシウム置換による保磁力増強に関する微視的研究
Microscopic study on the coercivity enhancement of Nd magnets by Dy substitution
西野 正理 NIMS
P2-21 高圧力下中性子回折実験によるマルチフェロイクスの研究
Neutron diffraction study for high pressure phases in multiferroics
N. Terada1,
C. V. Colin2,
N. Qureshi3,
T. C. Hansen3,
K. Matsubayashi4,
Y. Uwatoko5,
A. A. Belik1
1.NIMS
2.Institut Néel 3.Institut Laue Langevin
4.University of Electro-Communications
5.University of Tokyo
P2-22 フラストレート系Yb化合物の中性子回折
Neutron Diffraction Study of the Frustrated Yb Compounds
辻井直人1、加藤健一2、Lukas Keller3、長谷正司1 1.NIMS
2.防衛大学
3.Paul Scherrer Institute


イベント・セミナーデータ

イベント・セミナー名
NIMS先端計測シンポジウム2022
マテリアル革新力強化を支えるマルチスケール先端計測
会場
オンライン (Zoom)
開催日: 時間
2022.03.11
10:00~17:00
参加料
無料
主催
国立研究開発法人 物質・材料研究機構
先端材料解析研究拠点
先進材料イノベーションを加速する最先端計測基盤技術の開発プロジェクト

お問合わせ

先端計測シンポジウム2022事務局
TEL:029-851-3354(ext.3861)
FAX:029-859-2801
E-Mail: amcp2022=nims.go.jp([ = ] を [ @ ] にしてください)
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