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NIMS先端計測シンポジウム2019

ビッグデータに対応したオペランド・マルチスケール計測

開催日: 2019.03.07


最先端計測技術の開発により新たな材料イノベーションを推進することを目的にNIMS「先進材料イノベーションを加速する最先端計測基盤技術の開発」プロジェクトは、「先端計測シンポジウム 2019」を開催致します。

今回のシンポジウムでは、ビッグデータに対応したオペランド・マルチスケール計測を中心にプロジェクトが目指すところや研究成果に関して口頭セッションおよびポスターセッションにて発表します。また、計測インフォマティクスを先導する先端材料計測分野の第一人者による招待講演を交え、材料のオペランド計測とマルチスケール評価ならびに情報科学に携わる研究者と技術者の交流の場として、新たな連携と協働の関係を築きたいと考えております。皆様方、多数ご参加下さいますようご案内申し上げます。


開催日時

2019年3月7日 (木)
10時00分~17時10分
17時25分~意見交換会

開催場所

国立研究開発法人 物質・材料研究機構 千現地区
研究本館管理棟1階 第一会議室、講堂

参加費

無料  (但し 意見交換会 2000円)

プログラム

10:00-10:05 開会挨拶 藤田大介 研究
拠点長
セッション1 : 計測インフォマティクス
10:05-10:40 S1 特別講演
TBA
青柳里果 成蹊大学
10:40-11:00 O1
TBA
永村直佳 NIMS
11:00-11:20 O2
TBA
小原真司  NIMS
11:20-11:40 O3
TBA
上杉文彦  NIMS
11:40-13:10 ポスターセッションⅠ
セッション2 : オペランド・ミクロスケール計測
13:10‐13:45 S2 特別講演
オングストロームビーム電子回折イメージングを用いた非晶質構造の網羅的解析
志賀元紀 岐阜大学
13:45‐14:05 O4
TBA
橋本綾子 NIMS
14:05‐14:25 O5
TBA
三石和貴 NIMS
14:25‐14:45 O6
走査型プローブ顕微鏡による電位分布の動的観察 : 全固体リチウムイオン電池の評価
石田暢之、増田 秀樹、藤田 大介 NIMS
14:45‐15:30 ポスターセッションⅡ
セッション3 : オペランド・マクロスケール計測
15:30‐16:05 S3 特別講演
TBA
木村正雄 KEK
16:05‐16:25 O7
TBA
増田卓也 NIMS
16:25‐16:45 O8
TBA
桜井健次 NIMS
16:45‐17:05 O9
TBA
間宮広明 NIMS
17:05‐17:10 閉会挨拶 木本浩司 プロジェクトリーダー
17:25‐19:00 意見交換会 ポスター賞授賞式

ポスタープログラム

P1 表面敏感オペランドナノ計測法の開発と先進材料応用 倉橋光紀 NIMS
P2 原子層超伝導体 Si(111)-(√7×√3)-In の極低温高分解能 STM 測定 吉澤俊介、 鷺坂恵介、藤田大介、内橋隆 NIMS
P3 極低温・高磁場走査型トンネル顕微鏡のエネルギー分解能改善 鷺坂恵介、吉澤俊介 NIMS
P4 多元極限環境における電気伝導計測 : 原子層/磁性分子二次元ヘテロ構造の超伝導特性 内橋 隆 NIMS
P5 走査SQUID顕微鏡と材料開発への応用 有沢俊一 NIMS
P6 人工知能を使った計測インフォマティクス : 測定しながら解析する多次元・客観・高速解析への応用 石井真史 小澤哲也 他 NIMS
P7 Application of machine-learning AFM in cancer cell identification Hongxin Wang, Han Zhang NIMS
P8 Determination of virtual source size of a nanowire emitter Han Zhang NIMS
P9 ステンレス鋼隔板を透過する重水素の局所拡散係数の導出 宮内直弥、岩澤智也、村瀬義治、高木祥示、板倉明子 NIMS
P10 非晶質金属を用いた水素センサーの開発 矢ヶ部太郎、今村岳、吉川元起、板倉明子 NIMS
P11 配向制御した白金ステップ表面への酸素吸着反応 倉橋光紀 NIMS
P12 細胞間相互作用の計測と制御 貝塚芳久 NIMS
P13 DNA and microtubule as meta material Pushpendra Singh, Anirban Bandyopadhyay NIMS
P14 Time crystal measurements of microtubule Komal Saxena, Anirban Bandyopadhyay NIMS
P15 表層化学状態計測における情報分離技術の開発と応用 吉川英樹 NIMS
P16 埋もれた界面物性評価のための超高速分光技術2 石岡邦江 NIMS
P17 計測データ可読化変換ツールの公開  -- XPS & XRD -- 長尾 浩子1,松波 成行1,矢藤 幸治2,渡邉 勝己2,佐々木 明登3,小沢 哲也3,鈴木 峰晴1,吉川 英樹1  NIMS1, アルバック・ファイ株式会社2, 株式会社リガク3
P18 ミドルウェアシステムによる計測データ収集システムの構築 今村 栄司,横山 雅彦,長尾 浩子,鈴木 秀一,鈴木 峰晴,吉川 英樹 NIMS
P19 情報量基準によるXPSスペクトルの自動情報圧縮 篠塚寛志 NIMS
P20 Data-driven spectral analysis method Da Bo NIMS
P21 無線LAN搭載SDカードを用いた測定データ自動転送・変換システムの構築 松田朝彦 NIMS
P22 高エネルギー分解能REELS装置を用いた可視~超軟Ⅹ線帯の誘電関数評価 原田善之 NIMS
P23 高感度高精度電子顕微鏡法の開発とナノ領域その場物性計測 木本浩司 NIMS
P24 収差補正ローレンツ顕微鏡法による磁場誘起磁気相分離の可視化 長井拓郎、木本浩司、竹口雅樹 NIMS
P25 Cs2PtI6系デンドライトの合成と構造評価 田中美代子 NIMS
P26 ポリオール水溶液の液液転移のOH基の影響 鈴木芳治 NIMS
P27 NSOMの空間分解能における国際標準試料としてのナノスケール光学ピンホールの開発 三井 正 NIMS
P28 トポロジカル絶縁体のEELS計測
EELS measurements of topological insulators
吉川純 NIMS
P29 Development of a new scanning and acquisition system for the electron microscope Ovidiu CRETU, Keiichi YANAGISAWA, Kazuo ISHIZUKA, Koji KIMOTO NIMS
P30 強磁場固体NMRおよび強磁場光物性計測に関する技術開発と応用 清水禎 NIMS
P31 クライオコイルMASプローブにおけるリンギング対策 最上祐貴、清水禎、水野敬、戸田充、根本貴宏、竹腰清乃理 NIMS
P32 71Ga MAS NMR信号の分布における窒化ガリウム微結晶の四極子結合の一定性 丹所正孝、末廣隆之、清水禎 NIMS
P33 核四重極相互作用による半導体格子歪みの検出 後藤敦、端健二郎、大木忍、清水禎 NIMS
P34 核磁気共鳴用磁石への実装を目的として開発されたREBCO超伝導接続の抵抗値の評価 松本真治 NIMS
P35 イオンゲルゲートにより電荷制御された二層グラフェンのサイクロトロン共鳴 竹端寛治 NIMS
P36 半導体二次元電子系の強磁場分光計測 今中康貴 NIMS
P37 Cyclotron resonance in GaN quantum Hall systems Dickson Zakaria KINDOL NIMS
P38 量子ビーム計測応用技術の開発による先進材料イノベーションの加速 武田良彦 NIMS
P39 3倍周期鎖物質Cu3(P2O6OD)2の磁場中の中性子回折 長谷正司 NIMS
P40 室温以下におけるInSn合金の結晶成長 茂筑高士 NIMS
P41 Microscopic analysis of dynamical properties of Nd permanent magnets 西野正理 NIMS
P42 高圧力下中性子3次元偏極解析実験によるマルチフェロイクスの研究 寺田典樹 NIMS
P43 高速重イオン照射で形成されるシリカ中のコア/シェルイオントラック 雨倉宏 NIMS
P44 カーボンナノドットワイヤによるヨーグルト中の乳酸菌回収 中尾秀信 NIMS
P45 Broadband Plasmon Resonance Enhanced Third-Order Optical Nonlinearity in Refractory Titanium Nitride Nanostructures Rodrigo Sato NIMS
P46 Optical Nonlinear Response of Semiconductor Nanowires for Photonic Applications Kholoud Ramadan Khalil Elghool NIMS
P47 Spectral characterization of the third-order optical susceptibility of Au nanostructures Boyi Zhang NIMS
P48 Waveguide laser properties based on end-face coupling measurement Rang Li NIMS
P49 共役系有機・高分子?無機・金属ハイブリッド系のナノ構造制御と光学応答 小野寺恒信 東北大学
P50 Time-resolved X-ray diffraction set-up in BL15XU beamline and piezoresponse of PZT films Okkyun Seo NIMS
P51 Characterization of a 4-inch GaN wafer by X-ray diffraction topography Jaemyung KIM NIMS
P52 Snap shots for elements: color X-ray imaging based on CCD/CMOS camera Wenyang Zhao NIMS
P53 Development of X-ray standing wave imaging technique Wenyang Zhao NIMS
P54 Interface Imaging of Cobalt Stearate LB films Wenyang Zhao NIMS
P55 Full-field X-ray fluorescence imaging with size-expanded polarized synchrotron beam Wenyang Zhao NIMS
P56 Enhancement of S/B ratio in X-ray fluorescence spectra for large area size: Use of CCD camera and expanded polarized beam Wenyang Zhao NIMS
P57 Reproducible uniaxial negative thermal expansion in polyvinyl acetate thin film (1) X-ray reflectivity observation Yuwei Liu NIMS
P58 Reproducible uniaxial negative thermal expansion in polyvinyl acetate thin film (2) Modelling Yuwei Liu NIMS
P59 Physically deposited Nylon 6 thin film and the temperature response Yuwei Liu NIMS
P60 Mechanism of repetable absorption and desorption of water molecules during tenperature-responsive hydrophobic/hydrophilic switching Yuwei Liu NIMS
P61 Near surface depth profiling in nm scale by angle-resolved total-reflection X-ray fluorescence Haruya Kobayashi NIMS
P62 Versatile chemical handling to confine radioactive cesium as stable inorganic crystal Nguyen Duy Quang NIMS
P63 Visualization of inhomogeneous buried interfaces in thin films by X-rays and neutrons Kenji Sakurai NIMS


イベント・セミナーデータ

イベント・セミナー名
NIMS先端計測シンポジウム2019
ビッグデータに対応したオペランド・マルチスケール計測
会場
国立研究開発法人 物質・材料研究機構 千現地区
研究本館管理棟1階 第一会議室、講堂
開催日: 時間
2019.03.07
10:00~17:10
参加料
無料  (但し、意見交換会2000円)
主催
国立研究開発法人 物質・材料研究機構
先端材料解析研究拠点
先進材料イノベーションを加速する最先端計測基盤技術の開発プロジェクト

お問合わせ

先端材料解析研究拠点運営室
TEL:029-851-3354(ext.3861)
FAX:029-859-2801
E-Mail: amcp2019=nims.go.jp([ = ] を [ @ ] にしてください)
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