電子顕微鏡解析ステーション ナノ構造解析グループ

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2020.2.7 電子顕微鏡ステーション基礎講義

日時:2020年2月7日(金) 9:30~10:20 (受付9:15~)
場所:NIMS千現地区 本館 第2会議室

初心者を対象としたTEM基本操作の講習クラスを開講します。TEMの原理などの基礎について講義いたします。言語は日本語です。
内容:
●TEM像の解釈: TEM像中に現れる明暗のコントラストの要因について解説する。
●電子回折図形とTEM像の相関について、解説する。
●TEM像を見る上での注意点(サンプリング法の影響も含めた)について解説する。
●STEMや組成分析(EDX、EELS)については講義に含まれません。

※ 参加ご希望の方は、「申込フォーム」より お申し込みください。
  インターネットによる事前登録は 2020年2月3日(月) 正午までとなります。定員になり次第締め切ります。


チラシ

電子顕微鏡ステーション 事務局
掲載日:2019年9月27日