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施設・装置
Facilities
装置一覧
Facilities List
千現地区装置 Sengen site
実動環境対応物理分析電子顕微鏡
(JEM-ARM200F-G)
Real Working Environment
Physical Characterization TEM
実動環境対応型電子線ホログラフィー
電子顕微鏡(JEM-ARM200F-B)
Real Working Environmental
Electron Holography Microscope
200kV 電界放出形透過電子顕微鏡
(JEM-2100F1, JEM-2100F2)
200kV Field Emission
Transmission ElectronMicroscope
200kV 透過電子顕微鏡 (JEM-2100)
200kV Transmission Electron
Microscope
走査電子顕微鏡(JSM-7000F)
Field Emission Scanning Electron
Microscope
デュアルビーム加工観察装置
(NB5000)
Dual Beam System
FIB/SEM精密微細加工装置
(Helios 650)
FIB/SEM microfabrication
instrument
FIB 加工装置(JEM-9320FIB)
Focused Ion Beam System
FIB 加工装置(JIB-4000)
Focused Ion Beam Systems
FIB 加工装置
(JEM-9310FIB)
Focused Ion Beam System
ピックアップシステム
Pick-up System
ウルトラミクロトーム(Leica EM UC6)
Ultramicrotome
HRTEM 解析システム
HRTEM Analysis System
電子線トモグラフィー解析システム
Electron Tomography Analysis
System
DPC 解析システム
DPC analysis System
共用TEM 試料作製装置群
Shared Instruments for TEM
sample preparation
(Ion Slicer, PIPS, Dimple Grinder,
Osmium coater, and others.)
技術代行TEM 試料作製施設
TEM sample prep. equipment for
“Technical Surrogate”
施設・装置
Facilities
装置一覧
Facilities List
特殊ホルダー
Special Holders
装置所在マップ
Facilities Map
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