更新情報・お知らせWhat's New

2023年度の利用料金表を掲載しました。Usage fee of 2023FY is available.
2023/3/27NEW

予約ルールについて修正しました。Usage rules updated.
2022/11/22

利用の流れ（chart）を修正しました。Application procedure updated.
2022/10/28

2022年度TIAかけはし調査研究「液体セル電子顕微鏡法のソフトマテリアル研究への応用探索」特別セミナーのお知らせ
Seminar information
2022/6/16

共用装置追加登録のお知らせ
Two special holders have joined in our facilities

2022年度利用説明会を開催します
We have planed to conduct an orientation meeting for FY2022.
2022/5/09

2022年度外部利用者 利用申請受付開始について
Regarding Starting Subject Application of external users for FY2022
2022/4/25

2022年度内部利用者 利用申請受付開始について
Regarding Starting Subject Application of internal users for FY2022
2022/4/19

2022年度外部利用者向け利用システムについて
Regarding FY2022 facility-use system for external users
2022/4/7

新年度の利用について
Regarding reservations for the new fiscal year
2022/4/1

年度末の装置予約について (NIMS内部利用者)
Regarding reservations at the end of the fiscal year (For internal users)
2022/1/31

ナノテクノロジープラットフォーム事業での年度末の機器利用期限について
Regarding the use of Nanotechnology Platform project at the end of the fiscal year
2022/1/24

12月21日（火）NIMS微細構造解析プラットフォーム地域セミナー ～MEMS微細加工と実動環境その場TEM観察～ "MEMS microfabrication and in-situ TEM observation under real working environment" 【予稿集PDF/Proceedings】【オンライン注意事項/Notes】掲載されました。　2021/12/17

12月21日（火）NIMS微細構造解析プラットフォーム地域セミナー ～MEMS微細加工と実動環境その場TEM観察～ "MEMS microfabrication and in-situ TEM observation under real working environment" 申込〆切 Deadline: 12/15[wed] noon. 2021/12/14

2022年度からの新規事業について/New projects from FY2022
ナノテクノロジープラットフォーム事業は R4.3.31 で終了します。The Nanotechnology platform project will be terminated on March 31, 2022.　　2021/12/7

FIB/SEM精密微細加工装置 (Helios 650)が公開されました /　FIB/SEM microfabrication instrument (Helios 650) has been released
2021/11/16

2021年度 ナノプラ公開利用申請の受付終了について / Closing of the Nanotechnology platform “Public Use Applications” in the fiscal year of 2021
2021/11/5

2021/11/13-14, 20 ホームページメンテナンスのお知らせ / Server Maintenance
2021/11/1

12月21日（火）NIMS微細構造解析プラットフォーム地域セミナー ～MEMS微細加工と実動環境その場TEM観察～
"MEMS microfabrication and in-situ TEM observation under real working environment"　開催のお知らせ
2021/9/28

スタッフ対応および講習について
Staff support and training
2021/6/9

FIB講習再開のお知らせ
Notification of resumption of FIB training
2021/4/23

2021年度 課題申請の受付開始について / Starting to receive Application for FY2021
2021/3/17

2021年度 微細構造解析プラットフォーム 利用申請受付開始のお知らせ
Starting to Receive Application for Utilization of the Service in NMCP for FY2021
2021/2/19

2021年度利用相談の受付開始について / Regarding the usage consultation of TEM in the fiscal year of 2021
2021/2/2

今年度の利用相談、技術代行の対応について
Regarding Usage Consultation and Technical Surrogate
2020/12/21

2020年度 ナノプラ公開利用申請（利用相談含む）の受付終了について / Closing of the Nanotechnology platform “Public Use Applications” include usage consultations in the fiscal year of 2020
2020/12/4

2020/12/5 ホームページメンテナンスのお知らせ / Server Maintenance
2020/11/30

2021/1/8　NIMS微細構造解析プラットフォーム 地域セミナー
2020/11/11

2020/11/7 ホームページメンテナンスのお知らせ / Server Maintenance
2020/10/22

更新：「新型コロナウイルス感染対策期間中の装置利用について」を更新いたしました。
Updated：Caution for facility users (COVID-19)
2020/10/20

機器利用等、利用制限解除のお知らせ
Notification of resumption of the facilities use
2020/10/14

グループ名変更のお知らせ
Notification of the Nanostructural Characterization Group
2020/10/1

TEM 初心者講習クラス I＆Ⅱ 受付再開のお知らせ
Notification of resumption of TEM beginner class I＆Ⅱ
2020/9/16

更新：「新型コロナウイルス感染対策期間中の装置利用について」を更新いたしました。
Updated：Caution for facility users (COVID-19) was updated.
2020/8/20

夏期特別休暇推奨期間　電子顕微鏡ステーション装置の利用について
About the useage of the facilities of TEM Station in the recommended special summar vacation period
2020/7/21

電子顕微鏡 英語版の講習動画を公開しました。
English version： Videos of TEM beginner class I and TEM beginner class II have been released.
2020/7/20

更新： Bライセンスユーザーで装置利用をご希望の方は、事務局までお願い致します。
Updated：B-licensed users would like to use the Facilities, contact the Nanostructural Characterization Group office.
2020/7/14

装置利用における注意事項の一部を変更しました。次回のご利用前に、リンク先ページをご確認ください
A part of the Caution for facility users is changed. Please confirm the parts written in this page
2020/7/14

更新： Bライセンスユーザーで装置利用をご希望の方は、事務局までお願い致します。
Updated：B-licensed users would like to use the Facilities, contact Nanostructural Characterization Group office.
2020/6/30

2020/7/6 12:00-13:00 ホームページメンテナンスのお知らせ / Server Maintenance
2020/6/26

電子顕微鏡ステーション： Bライセンスユーザー機器利用一部受付再開のお知らせ
TEM Staion B-licensed users： Notification of resumption of use of some facilities
2020/6/26

電子顕微鏡ステーションにおけるライセンス発行について
License issuance at TEM station
2020/5/28

電子顕微鏡ステーション 装置利用のお知らせ
Facility Usage Notice of Transmission Electron Microscopy Station
2020/5/12

電子顕微鏡ステーションの一部サービス再開について
Regarding Partial Resumption of TEM Station Use
2020/4/30

電子顕微鏡ステーション組織変更のお知らせ
Notice of groups transfer from TEM staion
2020/4/16

更新： 新型コロナウイルス感染症の感染対策による電子顕微鏡ステーション当面のサービス縮小について
Update： Novel Coronavirus Disease countermeasure regarding Limitation of TEM Station Use
2020/4/13

新型コロナウイルス感染症の感染対策による電子顕微鏡ステーション当面のサービス縮小について
Novel Coronavirus Disease countermeasure regarding Limitation of TEM Station Use
2020/4/7

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