電子顕微鏡解析ステーション ナノ構造解析グループ

施設・装置Facilities

千現地区 技術代行TEM 試料作製施設 TEM sample prep. equipment for “Technical Surrogate”

[設置部屋] 千現地区 精密計測実験棟108室/Location: Room108, Physical Analysis Laboratories Building
※技術代行でのみ利用可。ナノテクノロジープラットフォーム支援事業課題を優先します。
※We give priority to users from the Nanotechnology platform program.

切断、機械研磨、イオン研磨、化学機械研磨(CMP)、包埋、染色処理等。貼り合わせ断面試料、平面試料、ダメージレスくさび形試料、低温低加速イオン研磨試料、生体材料試料、高分子材料試料など、ご要望に応じた試料作製が可能です。

There are apparatus for cutting, mechanical polishing, chemical-mechanical polishing (CMP), embedding, staining, etc. cross-sections, damage-free wedges, low temperature and low energy ion milled and biological samples can be prepared.

千現地区 外部支援試料作製施設
Facilities
・Multiprep System
・PIPS(Precision Ion Polishing System)
・PIPS II(Precision Ion Polishing System)
・Dimple Grinder
・ISOMET(precision cutter)
・PECS
・Other auxiliary equipment
・くさび形研磨装置 マルチプレップ
・精密イオン研磨装置
・精密イオン研磨装置PIPS II
・ディンプルグラインダー
・自動精密切断機 アイソメット
・精密コーティングシステム
・その他の補助機器

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