TEM分野:並木地区 TEM Field:Namiki-site

NM-407
セラミックス試料作製装置群
Ceramics sample preparation facilities


セラミックス材料、半導体材料に対し切断、機械研磨、ディンプリング、イオン研磨を行うことで電顕観察用試料を作製できます。また、低加速イオンミリングにより試料表面のダメージ層を除去できます。

お問い合わせ Contact:tem[at]nims.go.jp

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