材料分析分野（表面・バルク分析ユニット）
Materials Analysis Field
多環境場対応型X線単結晶構造解析装置
（XtaLAB Synergy-R/DW Custom）
Single Crystal X-ray Diffractometer for Multiple Environments)
低分子単結晶試料を用いた精密結晶構造解析
1. 高輝度X線発生器搭載（Rigaku FR-X）
2. 超高速・超高精度κゴニオメーター搭載
3. 高感度型X線検出器搭載（HyPix）
4. ２波長X線線源搭載（Mo/Cu）
5. ２種類の低温装置搭載（N2/He）
6. 高温装置搭載
7. 蛍光X線元素分析装置搭載（ELementANalyzer）
2波長Pilatus低温単結晶X線回折装置_NSC
(VariMax DW AFC11 with Pilatus)
sXRD_R_DW_LT_Pilatus_NSC
低分子単結晶試料を用いた結晶構造解析
1. 高感度型X線検出器搭載（Pilatus）
2. ２波長X線線源搭載（Mo/Cu）
3. ２種類の低温装置搭載（N2/He）
多目的X線回折装置_Cu_SSL
(SmartLab 9 kW)
pXRD_ Multi_Cu_R_SSL
・定性分析
・定量分析
・結晶化度評価
・結晶子サイズ/格子歪評価
・格子定数の精密化
・Rietveld解析
・極点図
・残留応力 など
温度可変型粉末X線回折装置_Cu1_NTS
(SmartLab 9 kW with cryostat/furnace)
pXRD_LT/HT_Cu1_R_NTS
・定性分析
・定量分析
・結晶化度評価
・結晶子サイズ/格子歪評価
・格子定数の精密化
・Rietveld解析など
高速・高感度型粉末X線回折装置_Cu_ASC_NS3
(SmartLab3)
pXRD_Cu_ASC_NS3
・定性分析
・定量分析
・結晶化度評価
・結晶子サイズ/格子歪評価
・格子定数の精密化
・Rietveld解析
卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC1
(MiniFlex600_Cu)
pXRD_Cu_ASC_NC1
・定性分析
・定量分析
・結晶化度評価
・結晶子サイズ/格子歪評価
・格子定数の精密化
・Rietveld解析など
卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC2
(MiniFlex600_Cu)
pXRD_Cu_ASC_NC2
・定性分析
・定量分析
・結晶化度評価
・結晶子サイズ/格子歪評価
・格子定数の精密化
・Rietveld解析など
卓上型粉末回折計_Cr_SCR
(MiniFlex600_Cr)
pXRD_Cr_SCR
・定性分析
・定量分析
・結晶化度評価
・結晶子サイズ/格子歪評価
・格子定数の精密化
・Rietveld解析など
卓上型X線回折計_Cu_SMF
(MiniFlex600_Cu)
pXRD_Cu_SMF
・定性分析
・定量分析
・結晶化度評価
・結晶子サイズ/格子歪評価
・格子定数の精密化
・Rietveld解析
硬X線光電子分光分析装置
(HAX-PES/XPS)(Quantes)
HAX-PES/XPS
各種固体試料（合金・半導体を含む無機化合物・有機物）の表面における
・元素分析
・定量分析
・化学状態分析
誘導結合プラズマ発光分析装置群
Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometers / Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometers
・精密元素分析
・溶液化した未知試料の定性分析
・金属・セラミックス・有機物など溶液化可能なあらゆる試料の精密元素分析
・公定法分析への対応
