研究内容・設備
当グループでは、走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子顕微鏡(TEM)、3次元アトムプローブ(3DAP)を用いた微細組織解析を基盤として、特性発現メカニズムの理解や高特性材料の開発、微細組織解析手法の高度化に向けた研究を進めています。
JEM-ARM300F (JEOL)
(NIMS共用設備)
当グループでは、走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子顕微鏡(TEM)、3次元アトムプローブ(3DAP)を用いた微細組織解析を基盤として、特性発現メカニズムの理解や高特性材料の開発、微細組織解析手法の高度化に向けた研究を進めています。
JEM-ARM300F (JEOL)
(NIMS共用設備)