原子レベル元素分布・構造解析用透過電子顕微鏡
Cs corrected Scanning Transmission Electron Microscope

Spectra Ultra S/TEM (Thermo Fisher Scientific)

千現地区 精密計測実験棟 127&105室 / Sengen-site, Physical Analysis Lab. #127&105

4.45 sradのEDS立体角（分析用二軸傾斜ホルダーでは4.04 sradの立体角）を有するUltra-X検出器を搭載し、加速電圧の切り替え能力により5分以内でレンズと試料ステージを安定状態にできるため、1セッションのなかで材料や観察目的に応じた最適な加速電圧でのS/TEM観察が可能です。

The SpectraUltra system can be operated at different voltages (30 ~ 300 kV) in a single microscopy session, and has a 4.45 srad EDS solid angle (4.04 srad solid angle with an analytical double tilt holder).

 

Specifications
Acc. Voltage	300, 200, 60, 30 kV
Corrector	Cs probe corrector S-CORR
EDS	Ultra-X (4.04 srad solid angle with an analytical double tilt holder)
EELS	Gatan Continuum S/1077 30-300 kV
Detectors	16-segmented Panther STEM detector (BF/DF/HAADF) DPC/iDPC imaging function Ceta-S camera (CMOS 4k×4k), 40 fps at 4k×4k