原子レベル元素分布・構造解析用透過電子顕微鏡
Cs corrected Scanning Transmission Electron Microscope
Spectra Ultra S/TEM (Thermo Fisher Scientific)
千現地区 精密計測実験棟 127&105室 / Sengen-site, Physical Analysis Lab. #127&105
4.45 sradのEDS立体角(分析用二軸傾斜ホルダーでは4.04 sradの立体角)を有するUltra-X検出器を搭載し、加速電圧の切り替え能力により5分以内でレンズと試料ステージを安定状態にできるため、1セッションのなかで材料や観察目的に応じた最適な加速電圧でのS/TEM観察が可能です。
The SpectraUltra system can be operated at different voltages (30 ~ 300 kV) in a single microscopy session, and has a 4.45 srad EDS solid angle (4.04 srad solid angle with an analytical double tilt holder).
Specifications |
Acc. Voltage |
300, 200, 60, 30 kV |
Corrector |
Cs probe corrector S-CORR |
EDS |
Ultra-X (4.04 srad solid angle with an analytical double tilt holder) |
EELS |
Gatan Continuum S/1077 30-300 kV |
Detectors |
16-segmented Panther STEM detector (BF/DF/HAADF) DPC/iDPC imaging function Ceta-S camera (CMOS 4k×4k), 40 fps at 4k×4k
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