電子顕微鏡ユニット
局所変形観察・解析電子顕微鏡(透過型電子顕微鏡)
Transmission Electron Microscope for Observation of Local Deformation
JEM-2800 (JEOL)
千現地区 先進構造材料研究棟115室 / Sengen-site, Advanced Structural Materials Bldg. #115
金属・セラミクス試料のEELS、EDSによる局所分析およびマップ取得。TEMを用いた高い分解能での方位マップ取得可能。
仕様
ショットキーエミッタ、加速電圧:最大200kV、大口径EDS(2x100mm
2
), エネルギーフィルタ (Gatan QuantumER), ASTAR(プリセッション電子回折)
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