局所変形観察・解析電子顕微鏡（透過型電子顕微鏡）
Transmission Electron Microscope for Observation of Local Deformation

JEM-2800 (JEOL)

千現地区先進構造材料研究棟115室 / Sengen-site, Advanced Structural Materials Bldg. #115
金属・セラミクス試料のEELS、EDSによる局所分析およびマップ取得。TEMを用いた高い分解能での方位マップ取得可能。

仕様
ショットキーエミッタ、加速電圧：最大200kV、大口径EDS(2x100mm²), エネルギーフィルタ (Gatan QuantumER), ASTAR(プリセッション電子回折)