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第127回先端計測オープンセミナー

Spin and energy resolved imaging with Scanning Field-Emission Microscopy (SFEM)

開催日: 2018.07.17 終了


日時

2018年7月17日 (火) 15:00-16:00

会場

国立研究開発法人 物質・材料研究機構
千現地区 研究本館8階 中セミナー室
交通案内 →こちら

参加方法及びお問合わせ

事前登録は必要ありません。
当日会場で受付いたします。
お問い合わせは、右記事務局までご連絡ください。

講演者

Prof. C.G.H. Walker

表題

Spin and energy resolved imaging with Scanning Field-Emission Microscopy (SFEM)

講演要旨

Scanning Field-Emission Microscopy (SFEM) is based on STM technology, but instead of imaging in a tunneling regime the tip is retracted away from the sample surface and imaged in a field emission regime. In contrast to STM, SFEM produces secondary electrons (SE) out of the sample, which can be analyzed by different detectors such as SED, energy analyzer or spin polarimeter. This novel technique has high SE contrast and the lateral resolution can be as high as 1 nm. Spin analysis with a Mott polarimeter has shown that the SE are carrying the magnetic signature of the sample. Hysteresis loop measurements of eight monolayers Fe on top of W(011) measured with the SFEM method demonstrate a typical magnetic behavior for that model magnetic sample. Polarization images of different magnetic nano-structures will be presented and compared with the well established method of SEM with polarization analysis (SEMPA).
In addition, a new miniature electron energy analyser has been developed in association with our partners at the University of York and York Probe Sources Ltd. The intention is to operate this analyser with SFEM. Simulations and first results from this analyser using a traditional electron gun will be presented. 


イベント・セミナーデータ

イベント・セミナー名
第127回先端計測オープンセミナー
Spin and energy resolved imaging with Scanning Field-Emission Microscopy (SFEM)
会場
国立研究開発法人 物質・材料研究機構
千現地区 研究本館8階 中セミナー室
開催日: 時間
2018.07.17
15:00~16:00
参加料
無料

お問合わせ

国立研究開発法人 物質・材料研究機構 先端材料解析研究拠点運営室
Tel:029-859-2643/2839
Fax:029-859-2801
E-Mail: amc=ml.nims.go.jp([ = ] を [ @ ] にしてください)
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国立研究開発法人物質・材料研究機構
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