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第102回先端計測オープンセミナー

走査型ケルビンプローブフォース顕微鏡を用いた全固体型リチウムイオン電池の内部電位分布のオペランド断面計測

開催日: 2017.07.10 終了


日時

7月10日 (月) 15:00~16:00

会場

国立研究開発法人 物質・材料研究機構 
千現地区 研究本館8階 中セミナー室
交通案内 →こちら

参加方法及びお問合わせ

事前登録は必要ありません。
当日会場で受付いたします。
お問い合わせは、右記事務局までご連絡ください。

講演者

増田秀樹 (先端材料解析研究拠点 表面物性計測グループ、NIMSポスドク研究員)

表題

走査型ケルビンプローブフォース顕微鏡を用いた全固体型リチウムイオン電池の内部電位分布のオペランド断面計測

講演要旨

次世代蓄電デバイスとして期待される全固体型リチウムイオン電池は、電極 - 固体電解質界面の抵抗により出力密度が上がらないという課題がある。この界面抵抗の起源を明らかにするために、電池内部の電位分布やリチウムイオン分布を計測する手法が求められている。本講演では、Arイオンビームを用いた断面研磨 (CP) を大気非暴露搬送と組み合わせて、固体電池デバイスの断面を作製し、走査型ケルビンプローブフォース顕微鏡を用いて、不活性雰囲気中で充電した電池の内部電位分布を断面計測した結果[1]を紹介する。また最近の取り組みから、飛行時間型二次イオン質量分析 (ToF-SIMS) を用いたリチウムイオン分布のその場断面計測についても触れる。
[1] Masuda,Nanoscale,9(2017)893.


イベント・セミナーデータ

イベント・セミナー名
第102回先端計測オープンセミナー
走査型ケルビンプローブフォース顕微鏡を用いた全固体型リチウムイオン電池の内部電位分布のオペランド断面計測
会場
国立研究開発法人 物質・材料研究機構
千現地区 研究本館8階 中セミナー室
開催日: 時間
2017.07.10
15:00~16:00
参加料
無料

お問合わせ

国立研究開発法人 物質・材料研究機構 先端材料解析研究拠点運営室

Tel:029-851-3354 内線3861
Fax:029-859-2801
E-Mail: amc=ml.nims.go.jp([ = ] を [ @ ] にしてください)
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