2024.01.18 更新

2023.12.11 VAMAS Special Seminar

Advanced scanning probe microscopy to characterise semiconductors – an overview of NPL’s capabilities and opportunities for collaboration

Dr. Fernando Castro


国際標準化委員会では、前VAMAS議長のFernando Castro博士(NPL, UK)とNIMSにおける半導体関係研究者との意見交換をする機会を設けました。
そこで、VAMAS Special SeminarとしてCastro博士にご講演いただき、13名の方に参加していただきました。講演会終了後はNIMS半導体研究者と活発な議論がなされ、その後、研究室見学を行いました。

【講演者】
Dr. Fernando Castro (National Physical Laboratory, UK)
  • Principal Scientist and Head of Science for Materials Metrology
  • Metrology for emerging electronic materials, electronic interconnects and magnetic materials
  • Former Chair of VAMAS
  • Presidential Board member of WMRIF