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技術作業部会
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TWA 2 表面化学分析
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TWA 5 高分子複合材料
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TWA 16 超伝導材料
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TWA 24 セラミックスの電気的特性(閉鎖)
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TWA 31 溶接部材のクリープき裂進展
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TWA 33 高分子ナノコンポジット
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TWA 34 ナノ粒子の特性評価
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TWA 36 プリンテッド・フレキシブルエレクトロニクス材料(TWA 46に統合)
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TWA 37 定量微細組織解析
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TWA 39 固体吸収材
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TWA 40 合成生体材料
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TWA 41 グラフェンおよび二次元材料
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TWA 42 ラマン分光法および顕微ラマン分光法
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TWA 43 熱的特性
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TWA 44 自己治癒セラミックス
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TWA 45 材料と環境
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TWA 46 半導体
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TWA 2 表面化学分析
TWA 42 ラマン分光法および顕微ラマン分光法
Raman Spectroscopy and Microscopy
ラマンおよび第二高調波発生(SHG)のような光マイクロプローブは、ラベルフリーな化学分析技術として一般的に使用されています。 そのような技術を導入する際に生じる主な障害は、国際標準がないことにより追跡可能な定量化が困難であることです。
このTWAは、将来の国際標準化に向けて、産学官が提案する試験方法のプレ標準化研究を国際共同で実施することを目的としています。
このTWAは、将来の国際標準化に向けて、産学官が提案する試験方法のプレ標準化研究を国際共同で実施することを目的としています。
完了したプロジェクト
- Calibration of the Raman shift
- Raman spectroscopy for TiO2 Nanoparticles mixtures
- Measurement of Lateral and Axial Resolution of Raman Microscope
- Measurement of laterial resolution of Raman microscopy with nanowire artefacts
- Consultation survey - Factors affecting reproducibility in Raman Spectroscopy
進行中のプロジェクト
- Protocols for Raman instrument calibration and harmonisation of Raman data
- Protocols for relative intensity calibration of Raman spectrometers
- Standardising lattice strain measurements in semiconductor substrates using Raman spectroscopy
- Interlaboratory study to measure variability in Coherent Raman Spectroscopy (CRS) peak position
- Wavenumber validation of Raman spectrometers