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技術作業部会
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TWA 2 表面化学分析
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TWA 5 高分子複合材料
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TWA 16 超伝導材料
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TWA 24 セラミックスの電気的特性（閉鎖）
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TWA 31 溶接部材のクリープき裂進展
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TWA 33 高分子ナノコンポジット
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TWA 34 ナノ粒子の特性評価
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TWA 36 プリンテッド・フレキシブルエレクトロニクス材料（TWA 46に統合）
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TWA 37 定量微細組織解析
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TWA 39 固体吸収材
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TWA 40 合成生体材料
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TWA 41 グラフェンおよび二次元材料
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TWA 42 ラマン分光法および顕微ラマン分光法
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TWA 43 熱的特性
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TWA 44 自己治癒セラミックス
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TWA 45 材料と環境
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TWA 46 半導体
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TWA 2 表面化学分析
TWA 46 半導体
Semiconductors
半導体は社会の未来を支える重要な基盤技術であり、国際的なロードマップが示すように、今後の発展には新素材と革新的な計測技術の導入が不可欠です。本技術作業部会は、次世代半導体分野におけるイノベーションの加速と貿易の促進を目的として、ベストプラクティスの確立と手法の検証に焦点を当てています。