TWA 37 定量微細組織解析
Quantitative Microstructural Analysis
このTWAの目的は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子線マイクロアナライザなどのマイクロビーム機器を使用して、定量微細組織解析のための試験手順を開発することです。
活動には、堅固な国際標準化への提案に必要な測定方法の研究室間比較研究およびプレ標準化の研究が含まれます。このTWAの主な役割は、マイクロビーム分析に関するISO TC202の作業をサポートすることです。
PROJECT 1: Determination of reproducibility and repeatability of grain size measurement by Electron Back Scattered Diffraction (EBSD)
PROJECT 2: Investigation of sharpness of scanning electron microscope (SEM) images
PROJECT 2: Investigation of sharpness of scanning electron microscope (SEM) images