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TWA 37　定量微細組織解析

Quantitative Microstructural Analysis
 このTWAの目的は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子線マイクロアナライザなどのマイクロビーム機器を使用して、定量微細組織解析のための試験手順を開発することです。
 
活動には、堅固な国際標準化への提案に必要な測定方法の研究室間比較研究およびプレ標準化の研究が含まれます。このTWAの主な役割は、マイクロビーム分析に関するISO TC202の作業をサポートすることです。
Completed Projects
PROJECT 1: Determination of reproducibility and repeatability of grain size measurement by Electron Back Scattered Diffraction (EBSD) 
PROJECT 2: Investigation of sharpness of scanning electron microscope (SEM) images

Active Projects
PROJECT 3: Development of guidelines for reproducible TEM specimen preparation by focused ion beam processing（集束イオンビーム加工による再現性のある透過型電子顕微鏡試料作製のためのガイドラインの開発）
PROJECT 4:Measurement of dislocation density in metallic materials by Transmission Electron Microscope (TEM)
PROJECT 5:Repeatability of high angular resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD) analysis for elastic strain measurements
PROJECT 6:Mesurement of grain size and distribution of nano-scale metal using Transmission Kikuchi Diffraction technique in SEM
PROJECT 7:Evaluation method of surface layer quality of TEM specimen prepared by focused ion beam processing（集束イオンビーム加工により作製したTEM試料の表面層品質の評価方法）
PROJECT 8:Guidelines on FIB Preparation of Atom Probe Tomography (APT) Specimens
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