プリンテッド・フレキシブルエレクトロニクス材料の開発において、信頼性の高い製品の製造を本格的に加速させるためには、必要となる材料や薄膜特性およびデバイス性能の効果的な測定手法を開発し、その試験手順を規格化することが必要です。
このTWAの活動の中では、課題に直結する特性に対する測定方法の検証や合意をとり、その目的や手法についての研究所間比較（interlaboratory comparison ; ILC）を行います。