電子顕微鏡ユニット

関連情報

共用設備等利用時の謝辞記載の義務化  重要 

2024年9月1日より共用設備等を利用して論文等で成果発表する場合の謝辞の記載が義務化されました。下記の例文をご参照ください。

 ARIM登録装置を利用した場合:

<和文>例:本研究(の一部)は、文部科学省「マテリアル先端リサーチインフラ」事業(課題番号JPMXP12xxNMyyyy)の支援を受けた。

<英文>例:(A part of) This work was supported by "Advanced Research Infrastructure for Materials and Nanotechnology in Japan (ARIM)" of the Ministry of Education, Culture, Sports, Science and Technology (MEXT). Proposal Number JPMXP12xxNMyyyy.

 ARIM登録装置以外の共用装置を利用した場合:

<和文>例:本研究(の一部)は、物質・材料研究機構の(※技術開発・共用部門)の支援を受けて実施された。
※( )内は、技術開発・共用部門のユニット名およびエンジニア名などを入れることも可能。

<英文>例:(A part of) This work was supported by (※Research Network and Facility Services Division) in National Institute for Materials Science (NIMS).
※( )内のResearch Network and Facility Services Divisionは、技術開発・共用部門の英語名称(RNFS)である。技術開発・共用部門のユニット名およびエンジニア名などを入れることも可能。

紹介動画:

 下記YouTube動画はNIMSオープンファシリティ(NOF)の紹介ビデオですが、当ユニットにて提供している装置群や分析事例を簡潔にまとめていますので、ご興味のある方はご覧ください。

『物質・材料研究のための透過電子顕微鏡』

 当ユニットの三留正則、長井拓郎らの執筆した『物質・材料研究のための透過電子顕微鏡』は、TEMを使うすべての方の指南書としてお薦めの1冊です!

物質・材料研究のための透過電子顕微鏡
- Transmission Electron Microscope for Materials Research -
木本浩司/三石和貴/三留正則/原 徹/長井拓郎・著
(講談社サイエンティフィク) ISBN 978-4-06-520386-6)

関連ファイル:

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