電子顕微鏡観察をNIMS内外の研究者へ強力にサポート
透過型電子顕微鏡（TEM）や走査型電子顕微鏡（SEM）、集束イオンビーム装置（FIB）等の利用サポートや特殊観察技術を用いた最先端の観察・解析を実施しています。
NIMS外の方でも、当ユニットの装置や技術を、マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM） 
やNIMSオープンファシリティ（NOF） 等のいくつかの方法で利用することができます。詳細は「利用方法」及び「装置一覧」をご覧ください。
最新情報：
- 2026.3.16 重要
- 2026年度の利用申請受付を開始いたします。利用開始までの手順をご確認の上、お申込みください。
ご不明な点がございましたら事務局<tem[at]nims.go.jp>までお問い合わせください。 - 2026.2.25
- 「NIMS電子顕微鏡ユニット装置管理システム」のURLが「https://emu.nims.go.jp/ 」に変更されました。旧URL（https://www.nmcp.jp/）からアクセスした場合は、当面、自動的に新URLへリダイレクトされますが、ブックマークされている方は新URLへ変更をお願いいたします。
- 2024.9.1
- 共用設備等を利用して論文等で成果発表する場合、謝辞の記載が義務化されました。下記の例文をご参照ください。
ARIM登録装置を利用した場合:
＜和文＞例：本研究（の一部）は、文部科学省「マテリアル先端リサーチインフラ」事業（課題番号JPMXP12xxNMyyyy）の支援を受けた。
＜英文＞例：(A part of) This work was supported by "Advanced Research Infrastructure for Materials and Nanotechnology in Japan (ARIM)" of the Ministry of Education, Culture, Sports, Science and Technology (MEXT). Proposal Number JPMXP12xxNMyyyy.
ARIM登録装置以外の共用装置を利用した場合:
＜和文＞例：本研究（の一部）は、物質・材料研究機構の（※技術開発・共用部門）の支援を受けて実施された。
※( )内は、技術開発・共用部門のユニット名およびエンジニア名などを入れることも可能。
＜英文＞例：(A part of) This work was supported by (※Advanced Engineering and Services Division) in National Institute for Materials Science (NIMS).
※（ ）内のAdvanced Engineering and Services Divisionは、技術開発・共用部門の英語名称（AESD）である。技術開発・共用部門のユニット名およびエンジニア名などを入れることも可能。
