電子顕微鏡観察をNIMS内外の研究者へ強力にサポート

電子顕微鏡ユニット（Electron Microscopy Unit, NIMS）は、研究の種々のフェーズにおける電子顕微鏡観察を広範にサポートします。

透過型電子顕微鏡（TEM）や走査型電子顕微鏡（SEM）、集束イオンビーム装置（FIB）等の利用サポートや特殊観察技術を用いた最先端の観察・解析を実施しています。

NIMS外の方でも、当ユニットの装置や技術を、マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）やNIMSオープンファシリティ（NOF）等のいくつかの方法で利用することができます。詳細は「利用方法」及び「装置一覧」をご覧ください。

お知らせ：

メンバー：

 ユニット長：田中 美代子

 定年制エンジニア：
三留 正則 |  上杉 文彦 |  倉嶋 敬次 |  長井 拓郎 |  諸永 拓 |  鴻田 一絵 |  三井 正 |  埋橋 淳

 技術系スタッフ：１４名 |  事務局スタッフ：２名

紹介動画：

 下記YouTube動画はNIMSオープンファシリティ（NOF）の紹介ビデオですが、当ユニットにて提供している装置群や分析事例を簡潔にまとめていますので、ご興味のある方はご覧ください。

『物質・材料研究のための透過電子顕微鏡』

 当ユニットの三留正則、長井拓郎らの執筆した『物質・材料研究のための透過電子顕微鏡』は、TEMを使うすべての方の指南書としてお薦めの１冊です！

『物質・材料研究のための透過電子顕微鏡』
- Transmission Electron Microscope for Materials Research -
木本浩司／三石和貴／三留正則／原 徹／長井拓郎・著
（講談社サイエンティフィク） ISBN 978-4-06-520386-6）