電子顕微鏡観察をNIMS内外の研究者へ強力にサポート

電子顕微鏡ユニット（Electron Microscopy Unit, NIMS）は、研究の種々のフェーズにおける電子顕微鏡観察を広範にサポートします。

透過型電子顕微鏡（TEM）や走査型電子顕微鏡（SEM）、集束イオンビーム装置（FIB）等の利用サポートや特殊観察技術を用いた最先端の観察・解析を実施しています。

NIMS外の方でも、当ユニットの装置や技術を、マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）やNIMSオープンファシリティ（NOF）等のいくつかの方法で利用することができます。詳細は「利用方法」及び「装置一覧」をご覧ください。

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