電子顕微鏡観察をNIMS内外の研究者へ強力にサポート

電子顕微鏡ユニット（Electron Microscopy Unit, NIMS）は、研究の種々のフェーズにおける電子顕微鏡観察を広範にサポートします。透過型電子顕微鏡（TEM）や走査型電子顕微鏡（SEM）、集束イオンビーム装置（FIB）等の利用サポートや特殊観察技術を用いた最先端の観察・解析を実施しています。NIMS外の方でも、当ユニットの装置や技術を、マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）やNIMSオープンファシリティ（NOF）等のいくつかの方法で利用することができます。

電子顕微鏡ユニットでは：

 最先端の電顕分析技術を基に、電子線損傷を受けやすい試料などの従来困難だった課題解決のための技術提供。

 多目的電顕から高分解能電顕まで、幅広い機能をカバーする透過型電子顕微鏡群と解析技術を共用化。

 結晶方位解析等、メゾスケールの材料組織解析に特化した最先端のSEMやFIB-SEMを中心とした電顕分析技術を提供。

 NIMS外（企業・大学）の研究者の方々にも、最先端の電子顕微鏡と関連設備を利用して頂くことができます。ご利用方法はマテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）とNIMSオープンファシリティ（NOF）の２通りがあり、ご利用の際は、経験・知識の豊富な技術スタッフが全面的にサポートいたします。詳細は「利用方法」及び「装置一覧」をご覧ください。

お知らせ：

紹介動画：

 下記YouTube動画はNIMSオープンファシリティ（NOF）の紹介ビデオですが、当ユニットにて提供している装置群や分析事例を簡潔にまとめていますので、ご興味のある方はご覧ください。

『物質・材料研究のための透過電子顕微鏡』

 当ユニットの三留正則、長井拓郎らの執筆した『物質・材料研究のための透過電子顕微鏡』は、TEMを使うすべての方の指南書としてお薦めの１冊です！

電子回折法、回折コントラスト法、高分解能観察、STEM、EDSやEELSによる元素分析、ローレンツ電子顕微鏡といった手法はもちろん、装置や試料作製法についても詳細に解説しています。

『物質・材料研究のための透過電子顕微鏡』
- Transmission Electron Microscope for Materials Research -
木本浩司／三石和貴／三留正則／原 徹／長井拓郎・著
（講談社サイエンティフィク） ISBN 978-4-06-520386-6）

メンバー：

 ユニット長：田中 美代子

 定年制エンジニア：
三留 正則 |  上杉 文彦 |  倉嶋 敬次 |  長井 拓郎 |  諸永 拓 |  鴻田 一絵 |  三井 正 |  埋橋 淳

 技術系スタッフ：１４名 |  事務局スタッフ：２名