電子顕微鏡ユニット

What's Atom Probe Tomograpyhy (APT)?

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アトムプローブ法の概要

Overview of Atom Probe Tomograpyhy (APT) Method

3次元アトムプローブ(APT: atom probe tomography, or 3DAP; three-dimentional atom probe)は、曲率半径~ 50 nmの針状試料に高い電圧を印可することで試料先端に高電界を形成し、電界蒸発(イオン化)のトリガーとしてレーザーパルス(もしくは電圧パルス)を照射します。試料先端からイオン化された原子が検出器に到達するまでの飛行時間(Time-of-Flight)と検出位置(x, y)を連続的(z)に計測することにより、100万倍以上の倍率での原子分布を3次元に可視化できる唯一の手法です。例えば、ナノスケールのデバイス中の元素分布、材料中の元素の不均一な分布、半導体ドーパントなどの微量添加元素を精度良く解析することができます。

Atom probe tomography (APT, or 3DAP; three-dimentional atom probe) is the only method to visualize the distribution of atoms as 3D map at a magnification ratio of over 1 million by simultaneously measuring the mass and position of atoms ionized with laser pulses (or voltage pulses) from the needle-shaped specimens with the radius of curvature ~ 50 nm. For example, this method can precisely analyze the 3D distribution of elements within nanoscale devices or the uneven elemental distributions within materials.

標準アトムプローブデータセット(NIMS提供)

Atom Probe Tomography (APT) Reference Datasets provided by NIMS

アトムプローブ(APT)法による組織解析は主に(1) 針状APT試料の作製、(2) APT測定、(3) APTデータ解析の3つのステップに分けられます。近年では、商用APT装置のハードウェアおよび測定プログラムの劇的な進化によって、「(2) APT測定」は自動化が比較的進み、操作者にとってのハードルは下がってきました。その一方で、経験や技能が求められる「(1) 針状APT試料作製」と、APTの原理から材料に至るまで幅広く高い専門知識が必要な「(3) APTデータ解析」が、APT法の活用において障壁となっているのが現状です。そこで、ここでは「(3) APTデータ解析」の一助となるべく、典型的な材料のAPTデータセットを随時公開していく予定です。

Microstructural analysis using the atom probe tomography (APT) can be broadly divided into three steps: (1) preparation of needle-shaped APT specimens, (2) APT measurement, and (3) APT data analysis. In recent years, dramatic advances in both the hardware and measurement programs of commercial APT instruments have led to the automation of "(2) APT measurement", making APT operation more accessible and user-friendly. On the other hand, "(1) preparation of needle-shaped APT specimens", which requires experience and skill, and "(3) APT data analysis", which demands a high level of specialized knowledge covering everything from APT fundamentals to materials science, remain as the main barriers to the effective utilization of APT. Therefore, to support "(3) APT data analysis", we plan to publish typical APT datasets for various materials as needed.

LEAP5000XS Datasets(準備中)

 Fe-B-P-Cuナノ結晶軟磁性材料のレーザーアトムプローブ分析における質量分解能の試料形状依存性
 ステンレス鋼のレーザーアトムプローブ分析における質量分解能の試料形状依存性
 コルソン合金のレーザーアトムプローブ分析における質量分解能の試料形状依存性
 レーザー補助電界蒸発により安定的に分析可能となった銅系材料のアトムプローブデータ

Invizo6000 Datasets(準備中)

 深紫外レーザーを用いたアトムプローブによる質量分解能の向上(ステンレス鋼)
 深紫外レーザーを用いたアトムプローブによる質量分解能の向上(コルソン合金)

アトムプローブ装置群

Specification Comparison of Atom Probe Tomograpyhy Equipments at NIMS, and the Others

機種 Invizo6000
(AMETEK)
LEAP5000XS
(AMETEK)
NIMS-in-house developed Laser-assisted APT LEAP6000XR
(AMETEK)
LEAP5000XR
(AMETEK)
外観 * Not at NIMS * Not at NIMS
イオン軌道 Straight Straight Straight Reflectron Reflectron
検出効率 ~ 62 % ~ 80 % 30 ~ 40 % ~ 50 % ~ 50 %
レーザー 257.5 nm 355 nm 1030, 515, 343, 257.5 nm 257.5 nm 355 nm
特長 新設計のイオン軌道による従来比較で4倍以上の分析視野/DUVレーザーによるデータ品質向上 局所電極採用によりTEM/APT同一視野解析が可能/試料の大気非暴露&低温維持搬送が可能 レーザー波長可変式で、短波長化(UVレーザー採用)により世界で初めて絶縁体バルクのAPT解析に成功 DUVレーザー+電圧パルスの同期による質量分解能追及 質量補正リフレクトロン採用による質量分解能重視型
RMKS 電子顕微鏡ユニット(内部共用: カテ2) 磁性・スピントロニクス材料研究センター(内部共用: カテ3) 磁性・スピントロニクス材料研究センター N/A N/A