耐爆オペランドX線CTイメージング計測

耐爆オペランドX線CTイメージング計測

200 keV（白色光）以上の高い透過力と高フラックスを有するX線を用いた透過イメージング装置と、防爆チャンバーを組み合わせることで、実用電池における不安全挙動をその場（in situ）で計測可能な評価環境を構築しています。
充放電・温度制御などの電気化学条件と同期したX線イメージングにより、内部構造変化や異常挙動を可視化し、安全性評価と劣化機構解明を高度化することができます。

その他のプロトコル

• 反応輸送モデルによる電極粒子設計計算
• 機械学習による電極構造・電池特性評価
• 電極３D構造構築と解析
• オペランド電極反応解析
• オペランド　ナノX線CTイメージング計測
• オペランド軟X線吸収分光計測
• 電池断面オペランド力学特性計測
• 小型電池の加熱安全性評価法
• 電解液材料の自律駆動探索システム
• ハイスループットラミネートセル作製システム
• 正極材・固体電解質データベース
• データ駆動型無機材料設計ツール