オペランド電極反応解析

オペランド電極反応解析（ラボXAS、HAXPES）

高輝度連続X線を備えた実験室型X線吸収分光装置は、光学系開発や測定条件最適化で²²Ti～⁴⁴Ruの3dおよび4d遷移金属について放射光施設と遜色ないスペクトルが得られます。　独自のオペランド専用セルの使用により、充放電の各段階でX線吸収端近傍構造（XANES）や、広域X線吸収微細構造（EXAFS）を継続的に測定できます。

その他のプロトコル

• 反応輸送モデルによる電極粒子設計計算
• 機械学習による電極構造・電池特性評価
• 電極３D構造構築と解析
• オペランド　ナノX線CTイメージング計測
• オペランド軟X線吸収分光計測
• 電池断面オペランド力学特性計測
• 耐爆オペランドX線CTイメージング計測
• 小型電池の加熱安全性評価法
• 電解液材料の自律駆動探索システム
• ハイスループットラミネートセル作製システム
• 正極材・固体電解質データベース
• データ駆動型無機材料設計ツール