オペランド　ナノX線CTイメージング計測

オペランド　ナノX線CTイメージング計測（放射光）

分解能20 nmのナノX線CTを用いることで、電極活物質粒子内部における微細構造変化や、負極におけるリチウム金属析出を三次元的に可視化可能な計測技術を構築しています。充放電に伴う相転移・体積変化に起因するボイド形成・クラック発生に加え、リチウム金属析出の発生・進展挙動を定量的に捉えることで、電極劣化および安全性低下の機構解明と、高耐久・高安全電池設計指針の確立に貢献します。

その他のプロトコル

• 反応輸送モデルによる電極粒子設計計算
• 機械学習による電極構造・電池特性評価
• 電極３D構造構築と解析
• オペランド電極反応解析
• オペランド軟X線吸収分光計測
• 電池断面オペランド力学特性計測
• 耐爆オペランドX線CTイメージング計測
• 小型電池の加熱安全性評価法
• 電解液材料の自律駆動探索システム
• ハイスループットラミネートセル作製システム
• 正極材・固体電解質データベース
• データ駆動型無機材料設計ツール