オペランド軟X線吸収分光計測

オペランド軟X線吸収分光計測（放射光）

オペランド軟X線吸収分光計測を用いることで、充放電過程における酸素の電子構造変化や3d遷移金属のd軌道占有状態の変化をその場で捉えることが可能。
酸素アニオンレドックスや遷移金属レドックスの寄与を定量的に評価することで、正極活物質の反応機構解明と高容量・高耐久材料の設計指針構築に貢献する。