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新共用装置のお知らせ : 表面・バルク分析分野

2024.07.12
表面・バルク分析分野で新たに2台の共用装置の利用を開始いたしました。
  • 電界放出形走査電子顕微鏡（JSM-6500F）
  • 走査電子顕微鏡（JSM-6510）
どうぞご利用ください。
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