新共用装置のお知らせ : 表面・バルク分析分野
2024.06.07
表面・バルク分析分野で新たに12台の共用装置の利用を開始いたしました。
- 薄膜X線回折装置_Cu
- 熱分析装置（TG/DTA＋DSC）
- ゼータ電位＆粒径測定装置（ELSZ-2000ZS）
- フーリエ変換赤外分光光度計（IRAffinity-1S）
- 紫外可視近赤外分光計（V-770）
- 分光蛍光光度計（FP-8500DS）
- 蛍光分光計（Fluorolog-3）
- フーリエ変換赤外分光計（FT/IR-6700）
- 中低温示差熱分析装置（DSC200F3）
- X線光電子分光分析装置（XPS-Quantera SXM）
- ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡（JSM-7001F）
- 電界放出形走査電子顕微鏡（SU8000）