粉末回折データを使用した結晶構造解析のための高分解能粉末回折装置が設置され、Debye-Scherrer型光学系とキャピラリー充填サンプルによる高精度粉末X線回折実験を主として実施している。第三世代放射光挿入光源からの短波長X線は、狭い2θ範囲からの回折データの収集においても充分な強度と角度分解能の粉末回折データを得る事を可能にする。効率良い回折データの収集のために検出器としてオンライン読み出し可能な多連装1次元X線検出器を主に使用している。加えて2θで24度の範囲のデータを一度に測定できるイメージングプレートも2次元回折データを必要とする実験に利用できる。2θの最小角度刻みは0.003度である。試料温度設定可能範囲は50-400Kである（窒素あるいはHe吹付け低温装置による）。1回の粉末回折強度データの測定は5~20分程度、平均的な配分シフト数は3シフトである。