施設紹介   装置紹介

装置紹介　NIMS内共用装置

装置番号：C1　装置名：X線コンピュータ断層撮影装置 301室

メーカー名： カールツァイス 型式： XRadia520Versa 用途： 電池および関連材料を非破壊で顕微X線断層撮影 概要： サブミクロンオーダーの分解能を持つ３D‐X線撮像装置 　１時間あたりの利用料金（税抜） 機器利用 3,000円 技術補助 4,500円 技術代行 9,000円 　装置仕様   対物レンズ ×40，×20，×10，×4，×0.4倍 空間分解能 0.7μm～ フィルター 最大24まで装備可 電圧 30～160kV 出力 ～10W 電流 90μA 　使用上の注意   ・ 使用環境温度：10～25℃ ・ 技術補助または技術代行のみ対応。ライセンスは発行していません。

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装置番号：C2　装置名：準大気圧X線光電子分光装置 103室

メーカー名： SPECS 型式： EnvriroESC 用途： 電解液に濡れた電極材料やガス発生が見込まれる全固体電池関連材料の元素・化学状態分析 概要： 0.1気圧程度の「準大気圧」環境における測定が可能なＸ線光電子分光装置。雰囲気制御のほか、加熱・冷却機構を搭載。その他、測定系内外を接続するための電流導入端子が付属。電気化学opelando測定環境が構築可能。 　１時間あたりの利用料金（税抜） 機器利用 4,000円 技術補助 5,500円 技術代行 11,000円 　装置仕様   最大圧力 0.1気圧 X線源 Al Kα（1487 eV） スポットサイズ 300 μm 雰囲気制御 N2、O2、Ar 加熱最大温度 550℃ 冷却最低温度 -2℃ 　使用上の注意   ・

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〒305-0044 　茨城県つくば市並木1-1　　 TEL：029-860-4941（代表） FAX：029-860-4981 Email：Battery-PF(a)nims.go.jp ※ （a）を「@」に変換してください。