イベント
設備利用講習会の追加開催(実習のみ)のお知らせ
【NIMS電子顕微鏡ステーション】
昨年12月19日に開催された設備利用講習会の装置操作実習には、定員を大幅に超える申し込みを頂きました。そこで、来る3月13日、実習のみ追加で開催いたします。
透過型電子顕微鏡(TEM)や集束イオンビーム装置(FIB)等の試料作製装置について、操作の体験をして頂けます。特にこれから装置の使用を検討されている方にとって良い機会になれば幸いです。
【日時】
2014年3月13日(木)13:00-17:00
【実習場所】
〒305-0047 つくば市千現1-2-1
物質・材料研究機構(NIMS)千現地区 精密計測実験棟
【実習装置】
・透過型電子顕微鏡(TEM):JEM-2100F、JEM-2100等
・集束イオンビーム装置(FIB):JEM-9310FIB、JEM-9320FIB、JIB-4000
・ウルトラミクロトーム(LEICA-EM-UC-6)
※当日の装置の状態により、機種が変わる場合があります。
【定員】20名程度を予定
【参加費】無料
【参加申し込み】:2月14日(金)〆切 〆切を2月28日(金)に延長します
事前に参加申し込みが必要です。
2月14日(金)までに、以下のURLからお申込みください。
申し込みは終了しました。
希望者多数の場合は抽選を行います。
結果は2月18日頃にご連絡いたします。
【お問い合わせ先】
国立研究開発法人物質・材料研究機構 電子顕微鏡ステーション
Phone&Fax: 029-859-2670
E-mail: tem@nims.go.jp