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国際標準規格（ISO 23729:2022）が2022年7月13日付で発行
2023.05.10
藤田大介さん（元 NIMS 先端材料解析研究拠点 拠点長）および大西桂子さん（NIMS マテリアル基盤研究センター 主任研究員）が中心となって、VAMAS/TWA2（表面化学分析）におけるプロジェクトA15として国際ラウンドロビンテストを実施し、国際標準化機構 ISO/TC201（表面化学分析）/SC9（走査型プローブ顕微鏡）において調整を進めてきた、「原子間力顕微鏡画像の探針先端効果補正手順のガイドライン」（Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size）に関する国際標準規格(ISO 23729:2022)が発行されました。
詳しくは、ISOのウェブストアをご覧ください。