イベント

国際標準化委員会では、前VAMAS議長のFernando Castro博士(NPL, UK)とNIMSにおける半導体関係研究者との意見交換をする機会を設けました。
そこで、VAMAS Special SeminarとしてCastro博士にご講演いただき、13名の方に参加していただきました。講演会終了後はNIMS半導体研究者と活発な議論がなされ、その後、研究室見学を行いました。
以下は講演の詳細とその様子です。

Advanced scanning probe microscopy to characterise semiconductors – an overview of NPL’s capabilities and opportunities for collaboration

　　　日時：2023年12月11日（月）13:45~14:30

　　　開催場所：NIMS千現地区先進構造材料研究棟2階セミナー室(213室)

　　　講演者：Dr. Fernando Castro (National Physical Laboratory, UK)
　　　- Principal Scientist and Head of Science for Materials Metrology
　　　- Metrology for emerging electronic materials, electronic interconnects and magnetic materials
　　　- Former Chair of VAMAS
　　　- Presidential Board member of WMRIF