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石田暢之主任研究員がISPlasma2016/IC-PLANTS20166においてExcellent Presentation Awardを受賞

2016.04.01
石田暢之主任研究員(先端材料解析研究拠点 表面物性計測グループ)が、2016年3月に名古屋大学で開催されたISPlasma2016/IC-PLANTS2016においてExcellent Presentation Awardを受賞しました。

Title: "Direct Visualization of the N Impurity State in Dilute GaNAs using Cross-sectional Scanning Tunneling Microscopy"
Authors: Nobuyuki Ishida, Masafumi Jo, Takaaki Mano, Takeshi Noda, Yoshiki Sakuma and Daisuke Fujita

この成果は、理化学研究所の定昌史研究員、NIMS機能性材料研究拠点の間野高明主幹研究員、佐久間芳樹グループリーダー、NIMSエネルギー・環境材料研究拠点の野田武司グループリーダー、NIMS先端材料解析研究拠点の藤田大介拠点長らと共同研究によるもので、これまで観察が難しかったIII-V族化合物半導体中の窒素不純物の電子状態の広がりを走査型トンネル顕微鏡(STM)で可視化することに世界で初めて成功しました。
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