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第147回先端計測オープンセミナー
走査型プローブ顕微鏡データにおける微小信号のEFAによる可視化
山西絢介、分子科学研究所、特任研究員

2019年11月19日 (火) 15:00-16:00

会場/Venue:

千現地区 研究本館8階 中セミナー室
Sengen Main Bldg. 8F Middle Seminar Room

講演者/Speaker:

山西絢介、分子科学研究所、特任研究員
AMANISHI, Junsuke, Institute for Molecular Science

表題/Title:

走査型プローブ顕微鏡データにおける微小信号のEFAによる可視化
Visualization of minute signals in scanning probe microscopy data by EFA

講演要旨:

走査型プローブ顕微鏡は、探針を試料上で走査しスペクトロスコピーを行うことで、試料の表面特性を可視化する技術の総称である[1]。その空間分解能は原子分解能に達するものもあり、試料を構成する単原子レベルでの特性を観測できる。一方、EFA(explolatory factor analysis)は統計解析の一手法であり、得られたデータを共通成分と独自成分の二種類に分ける統計モデルを持つ[2]。ここでは、測定で得られるスペクトルに含まれる信号とノイズが、共通因子と独自因子に分類できることに注目し、EFAを用いた微小信号の可視化を行った。これによって、スペクトルデータ内の微小信号を可視化することが出来たことを、様々な種類の走査型プローブ顕微鏡のデータを用いて発表する。

Scanning probe microscopy is a term expressing technologies that visualize surface characteristics of a sample by scanning probe over the sample and performing spectroscopy.[1] Some of them reach atomic resolution, and the characteristics at the atomic level constituting the sample can be observed. On the other hand, EFA (explolatory factor analysis) is a method of statistical analysis, which has a statistical model that divides obtained data into two types: the common factors and the specific factors.[2] Here, we focused on the fact that signals and noises included in the spectra obtained by measurement can be classified into the common factors and the specific factors, and visualized minute signals using EFA. I will give a presentation that we were able to visualize the minute signals in spectral data of various types of scanning probe microscopy.

[1] Wiesendanger, R., & Roland, W. (1994). Scanning probe microscopy and spectroscopy: methods and applications. Cambridge university press.
[2] Reyment, R. A., & Jvreskog, K. G. (1996). Applied factor analysis in the natural sciences. Cambridge University Press.
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