経歴

学歴
1990年 3月 東京都立国立高等学校　卒業
1996年 3月 東京理科大学理学部　物理学科　卒業
1998年 3月 東京大学大学院工学系研究課　物理工学専攻　修士課程修了
2002年 3月 東京大学大学院工学系研究課　物理工学専攻　博士課程修了

研究・職歴
2002年 4月〜2003年3月 東京大学物性研究所 学術研究支援員
2003年 4月〜2004年3月 東京大学物性研究所 研究生
2004年 4月〜2005年3月 現在 物質・材料研究機構 特別研究員

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研究業績


学術雑誌等

1. T. Takahashi, W. Yashiro, M. Takahasi, S. Kusano, X. W. Zhang, and M. Ando,
''Effect of Surface Structure on Crystal-Truncation-Rod Scattering under the Bragg Condition'',
Phys. Rev. B62 (2000) 3630.
2. S. Nakatani, S. Kusano, T. Takahashi, K. Hirano, S. Koh, T. Kondo, and R. Ito,
''Study of Sublattice Inversion in GaAs/Ge/GaAs(001) Ccrystal by X-ray Diffraction'',
Appl. Surf. Sci. 159-160 (2000) 256.
3. T. Takahashi, K. Sumitani, and S. Kusano,
'' Holographic Imaging of Surface Atoms using Surface X-ray Diffraction '',
Surf. Sci. 493 (2001) 36.
4. S. Kusano, S. Nakatani, T. Takahashi, K. Hirano, S. Koh, M. Ebihara, T. Kondo, and R. Ito,
''Study on Sublattice Reversal in a GaAs/Ge/GaAs(001) Crystal by X-ray Standing Waves'',
Jpn. J. Appl. Phys. 42 (2003) pp2582.
5. W. Yashiro, S. Kusano, K. Miki,
''Determination Method of Crystal Orientation by and Area-detector Image for Surface X-ray Diffraction'',
J. Appl. Cryst. accepted.
6. S. Kusano, S. Nakatani, K. Sumitani, T. Takahashi, Y. Yoda, N. Usami, and Y. Shiraki,
''A Cylindrical LiF Crystal Analyzer Designed for the Measurement of X-ray Fluorescence Holography'', submitted to Rev. Sci. Inst.
7. S. Kusano, S. Nakatani, K. Sumitani, T. Takahashi, Y. Yoda, N. Usami, and Y. Shiraki,
''High Sensitive Imaging of Atomic Arrangement in Buried Ge Clusters by X-ray Fluorescence Holography'', submitted to Jpn. J. Appl. Phys.
・学会発表
1. S. Kusano, S. Nakatani, T. Takahashi, K. Hirano, S. Koh, M. Ebihara, T. Kondo, and R. Ito,
'' Study on sublattice inversion layers of GaAs/Ge/GaAs(100) crystal by X-ray standing wave '',
The Second International Conference on Synchrotron Radiation in Material Science (SRMS-2),
Kobe, Japan, October 31-November 3, 1998, Program Abstracts p51.
2. 草野修治，黄晋二，海老原稔，中谷信一郎，木島俊博，高橋敏男，平野馨一，近藤高志，伊藤良一,
'' X線回折を利用したGaAs/Ge/GaAs(100)副格子反転層の評価 '',
日本物理学会 第53回秋の分科会　1998年9月　沖縄国際大学・琉球大学
日本物理学会講演概要集　第53巻　弟2号　第2分冊　p416.
3. 草野修治，中谷信一郎，隅谷和嗣，高橋敏男，依田芳卓，張小威，宇佐見徳隆，白木靖寛,
'' 蛍光X線ホログラフィによるGe/Si(001)量子ドット構造の研究 '',
日本物理学会 第55回年次大会　2000年９月 新潟大学
日本物理学会講演概要集　第55巻　弟2号　第4分冊　p824.
4. 草野修治, 中谷信一郎, 平野馨一, 高橋敏男,
'' 蛍光Ｘ線ホログラフィによるGe(111) '',
日本放射光学会 第13回年会 2001年1月7日 岡崎コンファレンスセンター,
日本放射光学会年会・概要集　p197.
5. 草野修治, 中谷信一郎, 隅谷和嗣, 高橋敏男, 依田芳卓, 宇佐美徳隆, 白木靖寛,
'' 蛍光X線ホログラフィのための円筒型LiF結晶アナライザーの作製 '',
平成14年度日本結晶学会　2002年12月 東大本郷キャンパス
日本結晶学会・概要集　p58.
6. 草野修治，田尻寛男，高橋敏男，宇佐美徳隆，白木靖寛，杉山弘，張小威，河田洋,
'' Ｘ線回折を利用したSi/Ge/Si(001)結晶におけるGe islandの歪みについての研究 '',
第17回日本放射光学会　2004年1月 つくば国際会議場
日本放射光学会年会・概要集　p213.

紀要

1. Shuji Kusano, Shinichiro Nakatani, Keiichi Hirano, Toshio Takahashi,
''X-ray Fluorescence Holography on Ge(111)'',
PHOTON FACTORY ACTIVITY REPORT USERS’ REPORT #16 PARTB (1998) p313.
2. Shuji Kusano, Shinichiro Nakatani, Toshio Takahashi, Keiichi Hirano, Shinji Koh, Minoru Ebihara, Takashi Kondo, Ryoichi Ito,
''Study of Sublattice Inversion Layers on GaAs/Ge/GaAs(001) Crystal by X-ray Standing Wave'',
PHOTON FACTORY ACTIVITY REPORT USERS’ REPORT #17 PARTB (1999) p143.
3. Shuji Kusano, Shinichiro Nakatani, Toshio Takahashi, Keiichi Hirano,
''Study of X-ray Holography on Ge(111)'',
PHOTON FACTORY ACTIVITY REPORT USERS’ REPORT #17 PARTB (1999) p330.
4. Shuji Kusano, Shinichiro Nakatani, Kazushi Sumitani, Toshio Takahashi, Yoshitaka Yoda,
''Measurement of Multiple Energy X-ray Holography'',
SPring-8 User Experiment Report No.5 (2000A) p147.
5. Shuji Kusano, Shinichiro Nakatani, Toshio Takahashi, Yoshitaka Yoda,
''Structural Study of Si/Ge/Si(001) Crystals by Measurement of Multiple Energy X-ray Holography'',
SPring-8 User Experiment Report No.6 (2000B) p65.
6. Shuji Kusano, Shinichiro Nakatani, Toshio Takahashi, Yoshitaka Yoda,
''Structural Study of Si/Ge/Si(001) Crystals by Measurement of Multiple Energy X-ray Holography'',
SPring-8 User Experiment Report No.7 (2001A) p79.