B11：X線吸収分光装置NanoGREEN棟　E-505室

メーカー名	Sigray/Canon MJ株式会社
型式	QuantumLeap
用途	Ｘ線分光法によって電極材料の局所構造・電子状態・配位構造等を分析
概要	XANES, EXAFS, EDXSといったX線域（内殻電子励起）での分光計測が可能な実験室型のX線吸収・蛍光分光測定装置。

X線源測定用	W, Rhターゲット
輝度	@6keV 10^6/s(XANSE), 10^7/s(EXAFS)
回折格子	Ge(220)， Ge(400)， Ge(440), HOPG(002)，Si(111)m
検出器	Si, 1030x514Pix
測定域	2.4～20KeV，分解能0.5eV
サンプル領域	＞40mm，微小スポットサイズ＜100μm，in-situ/operando解析可，1D/2Dマッピング

ソフトウエアは開発段階のため，利用希望の方はまずはお問い合わせください。
XAFSは透過で測定する方が解析が容易です。透過測定の場合，濃度・試料が厚すぎるとX線が透過せず，I₀とIの比較ができません。濃度が薄すぎるとI₀IとIがほぼ同じとなり，吸光度を計算できなくなります。試料が薄すぎると取り扱いが難しく，厚さを均一にすることが困難です。そこで，適切な濃度となるよう軽元素の窒化ホウ素粉末で希釈し，少なくとも30分メノウ乳鉢で混合した後，ペレット化して測定を行います。
サンプルの適切な濃度の計算は，こちらをご参考にしてください。