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SPM分科会会員によるＪＥＭへの最近の投稿

JEM (Journal of Electron Microscopy)

Seizo Morita, "Atom world based on nano-forces:25 years of atomic force microscopy", Journal of Electron Microscopy Vol. 60, Supplement 1(60th Anniversary Issue:Physical)(2011)pp.S199-S211

和文誌「顕微鏡」でのSPM特集

MICROＳCOPY 顕微鏡（旧「電子顕微鏡」）

和文誌「顕微鏡」2011年47巻1号
・特集　SPMのフロンティア
〜多様な材料系の研究ニーズに対応するSPM物性計測の最先端〜