イベント
第158回先端計測オープンセミナー
STEMによるナノ熱輸送計測法の開発
川本直幸 主幹研究員、電子顕微鏡グループ
2021年7月9日 (金) 11:00-12:00
会場/Venue：
オンライン（Zoom）
Online (Zoom)
※講演の録画・録音は禁止です。
※Audio and video recordings are prohibited.
Online (Zoom)
※講演の録画・録音は禁止です。
※Audio and video recordings are prohibited.
参加登録/Registration
先端材料解析研究拠点運営室宛メールでお申し込み下さい。
前日にZoom meetingの招待状をお送りします。
宛先 : 先端材料解析研究拠点運営室 (amc=ml.nims.go.jp ([ = ] を [ @ ] にしてください))
件名 : 第158回先端計測オープンセミナー参加登録
締切 : 2021年7月8日 (木) 12:00
Please apply by email to the Administration Office by 12：00 the day before.
Please apply to RCAMC Office by e-mail.
To: amc=ml.nims.go.jp(Please change "="to "@")
Subject: Registration for the 158th Open Seminar
Deadline :Thursday, July 8,2021 12:00
前日にZoom meetingの招待状をお送りします。
宛先 : 先端材料解析研究拠点運営室 (amc=ml.nims.go.jp ([ = ] を [ @ ] にしてください))
件名 : 第158回先端計測オープンセミナー参加登録
締切 : 2021年7月8日 (木) 12:00
Please apply by email to the Administration Office by 12：00 the day before.
Please apply to RCAMC Office by e-mail.
To: amc=ml.nims.go.jp(Please change "="to "@")
Subject: Registration for the 158th Open Seminar
Deadline :Thursday, July 8,2021 12:00
講演者/Speaker：
川本 直幸 主幹研究員 電子顕微鏡グループ
KAWAMOTO Naoyuki, Principal Researcher,Electron Microscopy Group
KAWAMOTO Naoyuki, Principal Researcher,Electron Microscopy Group
表題/Title：
STEMによるナノ熱輸送計測法の開発
Development of STEM-based thermal analytical microscopy
Development of STEM-based thermal analytical microscopy
講演要旨：
近年、熱伝導材料、熱絶縁材料、熱電変換材料の開発などにおいて、材料やデバイスの構造が熱を運ぶフォノンの平均自由行程と同等かそれ以下のスケールで制御されており、フォノンをはじめとする熱キャリアの散乱をミクロスコピックな観点で理解する必要性が高まっている。そこで、上記材料・デバイスにおいて微細構造・熱輸送を同時に評価できる新たなナノスケールの熱輸送評価手法として、微小熱電対による局所温度計測法と走査透過電子顕微鏡法（STEM）の電子ビームによる走査熱入力を組み合わせたSTEM-based Thermal Analytical Microscopy (STAM)法の開発を進めてきており、本研究について報告する。
In order to develop advanced thermal conductive, thermally insulating, and thermoelectric materials, it is required to control microstructures of materials and devices on a scale around the mean free path of phonons. It becomes more important to understand the scattering of phonons from a microscopic perspective. Therefore, we have developed a new nanoscale heat transport measurement method that can simultaneously observe microstructures and thermal conductivity by using in-situ transmission electron microscopy (TEM) techniques. We will report the developed STEM-based Thermal Analytical Microscopy (STAM) by combining a local temperature measurement by an assembled nanothermocouple in a TEM with scanning thermal inputs by using STEM beam.
In order to develop advanced thermal conductive, thermally insulating, and thermoelectric materials, it is required to control microstructures of materials and devices on a scale around the mean free path of phonons. It becomes more important to understand the scattering of phonons from a microscopic perspective. Therefore, we have developed a new nanoscale heat transport measurement method that can simultaneously observe microstructures and thermal conductivity by using in-situ transmission electron microscopy (TEM) techniques. We will report the developed STEM-based Thermal Analytical Microscopy (STAM) by combining a local temperature measurement by an assembled nanothermocouple in a TEM with scanning thermal inputs by using STEM beam.