| 走査型プローブ顕微鏡 Scanning Probe Microscopes |
SPMs | 走査型トンネル顕微鏡(STM)および原子間力顕微鏡(AFM) 電気化学条件下で表面原子像をとらえる |
| 表面X線回折 Surface X-Ray Scattering |
SXS | SOR光を利用したX線回折。Spring8 やPhotonFactory にて行う。 |
| フェムト秒ポンプ-プローブレーザー分光システム Femtoseconed Pump-Probe Laser Spectroscopy System |
可視光により励起された試料の可視光/赤外光吸収の過渡的変化を追跡。電子移動/構造変化のダイナミクスをリアルタイム(フェムト秒オーダー)で追跡可能。 | |
| 非線形分光システム - 赤外-可視和周波発生、光第二高調波発生 Nonlinear Spectroscopy Systems - Infrared-Visible Sum Frequency Generation and Second Harmonic Generation Spectroscopies |
SFG, SHG | 固液界面の電子状態や分子の振動状態を選択的に追跡可能。 |
| フーリエ変換赤外分光装置 Fourier Transform Infrared Spectrometer |
FT-IR | 固液界面分子の振動スペクトルを得る。ATR-FTIR法、SNIFTIRS法などを用いてサブモノレイヤーの分子の吸収変化を追跡可能。 |
| X線吸収微細構造 X-Ray Absorption Fine Structure |
XAFS | X線を用いた吸収分光法。PhotonFactory にて行う。 |
| 分光エリプソメーター Spectroscopic Ellipsometer |
SE | 薄膜の特性 (膜厚・光学定数)を評価する。 |
| ラマン分光システム Raman Spectrscopy System |
He-Neレーザー、倒立顕微鏡、分光器、CCD検出器を組み合わせたシステム。 金属基板に金属ナノ粒子を吸着させるギャップモード法により、従来のラマン散乱法では不可能だった単原子レベルで平滑な表面(単結晶)および、白金族(Pt, Pd etc.)金属表面のラマンスペクトルを得ることができる。 光源にパルスレーザーを使用し非線形ラマン散乱(ハイパーラマン散乱)の測定も可能。 |
| 水晶振動子マイクロバランス Quartz Crystal Microbalance |
QCM | 電極に吸着した物質の重量変化をngレベルで測定可能。 |
| 電気化学測定機器一式 | ファンクションジェネレーター＋ポテンショスタット＋XYレコーダーが基本。 | |
| 光電流測定 | 基本セット＋光源(Xeランプ)+モノクロメーター。 | |
| 回転電極 | 基本セット＋回転電極装置 |
| 真空蒸着装置 | 大面積または大量の高配向な金属基板が必要な場合に活躍。 | |
| 金属単結晶の作製 | 金属線をガスバーナーで溶融し単結晶ビーズを作製 -> ファセットヘ照射したHe-Neレーザーの反射スポットを頼りにファセットを特定の方向に向け -> 樹脂で固定 -> 余分な樹脂を切断、表面研磨 -> 樹脂を除去し電気炉でアニールをへて完成する。 | |
| 金属単結晶電極のアニール | Auの場合水素バーナーを使用して空気中で加熱。 Ptなど清浄な環境を必要とする金属の場合は不活性ガス雰囲気下で誘導加熱を行う。 |
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| 超純水装置 | Milli-Q システム | 水溶液中での電気化学測定にとってきれいな水は必要不可欠。 |