集束イオンビーム/走査電子顕微鏡(FIB/SEM)、（走査）透過型電子顕微鏡((S)TEM)や3次元アトムプローブ(3DAP)などを用いた微細組織解析研究

ナノ組織解析グループでは、集束イオンビーム/走査電子顕微鏡(FIB/SEM)、（走査）透過型電子顕微鏡((S)TEM)や3次元アトムプローブ(3DAP)などを用いて、永久磁石を含む様々な磁性材料やデバイスの微細組織解析研究を行います。解析手法の高度化を進めつつも微細組織と特性の因果関係を詳細に解明することを重視した研究を進め、高特性材料の開発にむけた微細組織の設計指針を提案することで、材料開発の加速に貢献します。

Multiscale characterization of functional materials using FIB/SEM, (S)TEM, and 3DAP techniques.

We will perform microstructure analysis of various magnetic materials and devices, including permanent magnets, using a focused ion-beam/scanning electron microscope (FIB/SEM), scanning transmission electron microscope ((S)TEM), and 3D atom probe (3DAP). The group will put a priority on revealing the structure-property relationship to contribute to the acceleration of the materials development by proposing microstructure design strategies to achieve excellent properties, while the group also commits to the development of novel approaches for the microstructure analysis.