仕様一覧
| 名称 | 提供磁場 (Tesla) |
口径 (mmø) |
備考 |
大型マグネット 管理担当者 ： 二森茂樹
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大口径超伝導マグネット | 32 | 52 |
3He クライオスタット 42K 温度可変クライオスタット 超伝導マグネット単独で14T |
| 35 | 30 |
小型マグネット 管理担当者 ： 二森茂樹
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18T汎用超伝導マグネット | 18 | 52 | 4.2K 専用／温度可変 |
| 15T超伝導スプリットマグネット | 15 | (44) | 4He 温度可変
(試料空間: 25mmø) |
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| 冷凍機伝導冷却型10T超伝導マグネット | 10 | 100 | 縦・横置き 4.2K, 77K, 室温 |
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| 冷凍機伝導冷却型12T超伝導マグネット | 12 | 100 | 縦・横置き 4.2K, 77K, 室温 |
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| 試料振動型磁化測定装置 (VSM) |
最大磁場 ±11.5 |
測定温度 : 4-300K 測定可能磁化範囲 : 10-4-10emu 試料寸法 最大5mm角程度 磁場掃引速度 : 1.0T/min |
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低温物性マグネット 管理担当者 ： 宇治信也
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20T マグネット・希釈冷凍機システム | 20 | 52 | 希釈冷凍機付 (試料空間 : 20mmø) 磁場均一度 : 10-4/10mmDSV |
| 20T マグネット・ヘリウム3冷凍機システム | 20 | 52 | ヘリウム3 クライオスタット (試料空間 : 20mmø) 磁場均一度 : 10-3/10mmDSV |
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| 17T マグネット・ヘリウム4VTIシステム | 17 | 52 | ヘリウム4 温度可変クライオスタット (試料空間 : 37mmø) Homogeneity: 1*10-3/10mmDSV |
強磁場光学測定システム 管理担当者 ： 今中 康貴
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強磁場光学測定システム | 40 （パルス磁場） 15 （定常磁場） |
30 52 |
パルス幅1msec 1分間隔で磁場発生可能 ヘリウム4 温度可変クライオスタット （試料空間：42mm） 磁場均一度: 2X10-4/10mmDSV |
大口径17Tマグネット 管理担当者 ： 西島 元
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大口径17Tマグネット | 17 |
129 （コールドボア） |
コイル試験用プローブ（最大DC800A） 875ADC電源 |
高磁場下材料・プロセス観測・制御装置 管理担当者 ： 廣田 憲之
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高磁場下材料・プロセス観測・制御装置 | 13 | 100 | 13 T伝導冷却式超伝導磁石と、その中でレーザー顕微鏡観察が可能な光学系(現在のところ世界で唯一)を有し、高磁場中でのその場観察が可能。 |
| ヘリウム液化施設 | クライオスタット | ||
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