装置
高温X線回折装置(RINT TTR III)：1300℃までの構造が測定できます。
X-ray diffractometer (RINT-TTR III, Rigaku, Tokyo, Japan) make measurement of crystal structure up to 1300C.
走査型電子顕微鏡;
走査型電子顕微鏡(Hitachi S4700)：微細組織の観察ができます。
The Hitachi S-4700 Field Emission Scanning Electron Microscope is a high-resolution field emission scanning electron microscope(FESEM).
