集束イオンビーム/走査電子顕微鏡(FIB/SEM)、（走査）透過型電子顕微鏡((S)TEM)や3次元アトムプローブ(3DAP)などを用いた微細組織解析研究

佐々木 泰祐 (グループリーダー)
FIB/SEMやCs補正TEMなどの最新鋭の電子顕微鏡やアトムプローブトモグラフィーを用いて、微細構造をマルチスケールで詳細に解析し、永久磁石やスピントロニクス材料など、さまざまな磁性材料の構造-物性相関を明らかにします。

Multiscale characterization of functional materials using FIB/SEM, (S)TEM, and 3DAP techniques.

The microstructure is analyzed at multiple scales and in detail using state-of-the-art electron microscopes, such as FIB/SEM and Cs-corrected TEM, and atom probe tomography to reveal structure-property relationships in various magnetic materials, including permanent magnets, spintronic materials, etc.