X線とは波長1pm-10nmの電磁波です。X線が物質に入射すると、さまざまな原因により吸収されながら通過していきます。CTスキャン装置は、対象物内をX線が透過する際の「透過しやすさ」「吸収されやすさ」の違いを利用して、材質や構造を調べます。CTとはComputed Tomography の略称で、コンピュータ断層撮影法と呼ばれており、物体を走査（scan、スキャン）することからX線CTスキャンとよばれます。 物体をさまざまな方向からX線で撮影し、再構成処理を行うことにより、物体の内部構造を得ることができます。 異なる材料で構成された物質の場合だけでなく、同じ物質であっても、密度が異なるとX線の吸収係数にちがいが出るため、その差を計測することができます。材料内部の破壊や劣化を、対象を破壊することなく非破壊的に評価するが可能な非常に強力な分析装置です。また、同一試料の内部変化を断続的に観察していくといった場合にも極めて有用です。