014D-STEMによる高分解能計測
走査型透過電子顕微鏡(STEM)で得られる4次元的な回折データを用いることで、 従来より高い分解能での構造解析が可能になります。電子線タイコグラフィー法を用いれば、 ゼオライトのような多孔質材料の内部に存在するごく微量な金属原子の位置を直接的に捉えることもできます。
実働環境電子顕微鏡開発グループ In-situ Electron Microscopy Technique Group
外部からの刺激に対して材料がどのように変化するかをその場で捉える「その場観察」は、材料研究に欠かせない手法です。 近年は、機能性材料やデバイスが実際に動作している状態そのものを捉える「実働環境(オペランド)計測」への関心が 世界的に高まっています。電子顕微鏡による実働環境計測には、観察環境自体に起因する制約が数多く存在し、 目的に応じた独自の工夫が求められます。
当グループでは、電圧印加・ガス雰囲気・液中観察といった実働環境計測技術の高度化を進めるとともに、 大量データの情報理論的な処理による低ダメージ観察手法の開発など電顕手法自体の高度化に取り組み、 より広い適用範囲を持つ実働環境計測の実現を通じて材料研究全般に貢献することを目指しています。
グループ内の最新情報についてお知らせします。
実働環境下での材料計測を支える、代表的な研究テーマを紹介します。
走査型透過電子顕微鏡(STEM)で得られる4次元的な回折データを用いることで、 従来より高い分解能での構造解析が可能になります。電子線タイコグラフィー法を用いれば、 ゼオライトのような多孔質材料の内部に存在するごく微量な金属原子の位置を直接的に捉えることもできます。
NIMSで開発された水素の可視化装置です。走査型電子顕微鏡内に、電子励起脱離した水素イオンを検出する機構と 薄板試料の背面から水素を導入する機構を組み込むことで、試料を透過してきた水素の二次元分布を長時間にわたり in-situ計測することができます。現在この装置は、ライセンス契約のもとエリオニクス株式会社から製造・販売されています。
グループリーダーおよび在籍メンバーです。各研究者の詳細情報はリンクからご覧ください。
グループが発表した論文を年別に掲載します。
2023年度以前の情報は、研究者総覧SAMURAIをご参照ください。
研究内容へのご質問・共同研究等のご相談は、下記までお願いいたします。
国立研究開発法人物質・材料研究機構(NIMS)
マテリアル基盤研究センター(CBRM)/先端解析分野
国立研究開発法人物質・材料研究機構(NIMS)